[发明专利]键盘矩阵阻抗测试装置

说明书

本发明揭示一种键盘矩阵阻抗测试装置，包括：测试用连接器，其一端具有插设键盘的碳带的接口，另一端具有依序排列的若干个第一引脚孔，各该第一引脚孔与所述碳带的碳带引脚一一对应连接，该若干个第一引脚孔分为对应键盘矩阵X轴的第一区域及对应键盘矩阵Y轴的第二区域；测试用转接板，其一端与所述测试用连接器处于第二区域的各该第一引脚孔连接，另一端具有若干个依序排列的第二引脚孔，各该第二引脚孔与该第二区域的该第一引脚孔一一对应连接；微欧姆计，具有两个探针，各探针分别插入所述第一引脚孔及第二引脚孔。因此插入更加方便，操作简单，且插入准确，接触良好；方便操作者正确选择对应的第一引脚孔及第二引脚孔。

【技术领域】

本发明涉及测试装置，具体涉及一种键盘矩阵阻抗测试装置。

【背景技术】

键盘处于零件样品承认时，需要使用微欧姆计来测量每个键帽(keycap)在矩阵中的接触阻抗的大小，从而获知其接触状况是否良好，功能是否正常。接触阻抗反映出键盘每个键帽所处的触发点在其回路中是否接触完好且回路畅通，不会产生功能不良，部分键实效等，也不会导致后期使用可靠性偏差的状况。键盘阻抗的测量主要处于单体初到，或者高温、低温、湿度、雨淋、防尘、振动落摔之后的接触回路的检测。

通常键盘矩阵的阻抗规格，在环境及可靠性测试实验前后，常规键会低于250毫欧，功能键会低于300毫欧。

请参阅图1，图1绘示为现有技术的一种键盘矩阵阻抗测试装置示意图。如图所示，该键盘100包括若干个键帽101，该若干个键帽101对应一个键盘矩阵，各键帽101具有一个二维坐标，该键盘100的各键帽101的输出通过一个碳带102与外界连接，该碳带102上具有对应上述二维坐标的碳带引脚103，例如包括16个横坐标X的碳带引脚103以及8个纵坐标Y的碳带引脚103。现有技术在测试某个键帽101时，是将微欧姆计的探针104，去接触该键帽101对应二维坐标的两个碳带引脚103，按压该键帽101，进行测试并通过微欧姆计获得数值，与测试标准进行比较，以确定测试是否通过。

然而，采用上述方式进行测试时，由于碳带引脚103通常是密密麻麻的，没有数值标记，因此测量时无法较快找到对应键帽101坐标的两个碳带引脚103，操作麻烦；并且由于碳带引脚103很密，间距很小(约0.5毫米)，所以微欧姆计所用测试探针104不易与碳带引脚103接触良好，经常需要多次点击尝试。

有鉴于此，实有必要提供一种键盘矩阵阻抗测试装置，以解决上述问题。

【发明内容】

因此，本发明的目的是提供一种键盘矩阵阻抗测试装置，解决测试时操作麻烦、无法快速达到测试目的的问题。

为了达到上述目的，本发明的键盘矩阵阻抗测试装置，包括：

测试用连接器，其一端具有插设键盘的碳带的接口，另一端具有依序排列的若干个第一引脚孔，各该第一引脚孔与所述碳带的碳带引脚一一对应连接，该若干个第一引脚孔分为对应键盘矩阵X轴的第一区域及对应键盘矩阵Y轴的第二区域；

测试用转接板，其一端与所述测试用连接器处于第二区域的各该第一引脚孔连接，另一端具有若干个依序排列的第二引脚孔，各该第二引脚孔与该第二区域的该第一引脚孔一一对应连接；

微欧姆计，具有两个探针，各探针分别插入所述第一引脚孔及第二引脚孔。

可选的，该第一区域内的各该第一引脚孔具有坐标标识。

可选的，该第二区域上的各该第一引脚孔具有坐标标识。

可选的，所述第一引脚孔为铜箔孔。

可选的，所述第二引脚孔为铜箔孔。

可选的，该第二引脚孔具有坐标标识。

可选的，所述测试用连接器与所述测试用转接板垂直放置。