[发明专利]平板探测器残影校正方法及其校正装置

权利要求书

1.一种平板探测器残影校正方法，所述平板探测器为可连续采集图像的动态平板探测器，其特征在于，所述平板探测器的图像残影校正方法至少包括以下步骤：

S1、通过测试获取亮场图像及曝光前后暗场图像信息，包括：

S11、开机预热；

S12、采集本底校正模板、增益校正模板、坏点校正模板并存储；

S13、以设定曝光时间对平板探测器进行曝光，连续采集暗场-亮场-暗场图像，其中，所述设定曝光时间为m*T，m为小于5的正整数，T为单帧图像采集时间；

S14、对采集的图像进行本底校正、增益校正、坏点校正；

S15、存储本底校正、增益校正、坏点校正后的图像；

S2、计算单帧图像残留在后续图像中的残影值，通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影值，计算单帧图像的残影衰减系数，其中，计算单帧图像残影衰减系数包括以下步骤：

S21、读取步骤S15中存储的暗场-亮场-暗场图像；

S22、计算所述设定曝光时间内残留的残影系数，满足关系：K_lag(n)＝(D₂(n)-D₁)/(L-D₁)*100％，其中，D₁为曝光之前采集到的暗场图像的图像均值，D₂(n)为曝光之后采集到的第n帧暗场图像的图像均值，L为亮场图像的图像均值；其中，n为正整数；

S23、将所述设定曝光时间内残留的残影值近似为M帧亮场图像累积的残影系数，由M帧亮场图像残留在后续图像中的残影系数K_lag(n)，直接反推计算出单帧图像残留在后续图像中的残影系数k(n)，其中，M为介于m～m+3之间的整数；其中，n为正整数，表示图像序列；

S24、通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影系数获得单帧图像的残影衰减系数a_i，b_i；其中，a_i表示残影指数衰减速率，b_i表示残影比例系数，j为拟合函数的指数个数，i为从1到j的正整数；

S25、存储所述单帧图像的残影衰减系数；

S3、根据所述单帧图像的残影衰减系数迭代计算前n帧图像残留在当前帧的残影积累量，n为大于1的正整数；

S4、以当前帧采集图像减去前n帧图像残留在当前帧的残影积累量，获得残影校正后的图像。

2.根据权利要求1所述的平板探测器残影校正方法，其特征在于，在所述步骤S3中，计算出前n帧图像残留在当前帧的残影积累量包括以下步骤：

S31、将所述单帧图像的残影衰减系数导入迭代算法，获得单帧亮场图像残留在其后面第n帧图像的残影值：其中，X为单帧亮场的图像矩阵；

S32、通过迭代累积计算出前n-1帧图像残留在第n帧图像的残影值：其中，l为从1到n-1的正整数，X(n-l)为第n-l帧校正后的图像矩阵。

3.根据权利要求2所述的平板探测器残影校正方法，其特征在于，在所述步骤S4中，残影校正后的图像矩阵满足：其中，X(n)为当前帧校正后的图像矩阵，Y(n)为当前帧采集的图像矩阵。

4.根据权利要求3所述的平板探测器残影校正方法，其特征在于，在所述步骤S4中，还包括通过调用S_n-1、X_n-1对第n帧图像进行残影校正，满足如下关系：其中其中，n为正整数，代表图像序列，S_i(n)为简化计算而设置的循环迭代量。