[发明专利]触摸屏寿命的测试方法在审

专利信息
申请号: 201711302957.1 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN109900977A 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 刘志凯;吴旭博;陈敬华;祝博 申请(专利权)人: 鸿准精密模具(昆山)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M99/00;G06F3/045
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 康春
地址: 215316 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试板 开孔 机台 测试区域 振动试验 触摸屏 测试 振动试验机 触摸功能 时间检查 寿命测试 测试球 正对 屏幕 记录
【权利要求书】:

1.一种触摸屏寿命的测试方法,包括如下步骤:

提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠;

提供一待测屏,同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域;

提供一振动试验机台,将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上,所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试珠置于所述开孔内;

所述振动试验机台振动;

每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常;及

记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。

2.如权利要求1所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:所述开孔呈圆形且贯穿所述测试板的上下表面。

3.如权利要求2所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:所述测试珠为钢珠,所述测试珠的数量为多个且规格均相同,每一测试珠的直径为8mm,质量为0.002kg。

4.如权利要求3所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:所述测试区域呈圆形且所述测试区域的直径等于所述开孔的直径。

5.如权利要求4所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:通过固定架将所述待测屏和测试板固定于所述振动试验机台上。

6.如权利要求5所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:所述振动试验机台的振动方式为正弦振动,所述振动试验机台的振动频率为10Hz-40Hz。

7.如权利要求6所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:所述测试珠对待测屏的敲击力大于所述待测屏的触摸力范围,小于待测屏的最大承受力范围。

8.如权利要求6所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:所述测试珠对待测屏的敲击力为2.5N。

9.如权利要求6所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:检查所述待测屏的功能是否正常的方法为,用测试球在待测屏的所述测试区域上来回滚动并分析所述测试球划线的轨迹是否连续,若所述测试球每次画线的轨迹均连续则代表所述待测屏幕功能正常,若所述测试球画线轨迹出现断线或者非连续,且该断线或非连续区域内无论怎样均不能画出测试球的轨迹代表所述待测屏损坏。

10.如权利要求9所述触摸屏寿命的测试方法,其特征在于:所述测试球的直径为25.4mm,质量为66g。

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