[发明专利]触摸屏寿命的测试方法

说明书

一种触摸屏寿命测试方法，包括如下步骤：提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠；提供一待测屏，同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域；提供一振动试验机台，将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上，所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试球置于所述开孔内；所述振动试验机台振动；每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常；记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。

技术领域

本发明涉及一种触摸屏寿命的测试方法。

背景技术

近年来，触摸屏以其操作简单、直接等优势已经广泛的应用于手机、电脑等领域。

常见的触摸屏可分为电容式触摸屏和电阻式触摸屏。电容式触摸屏受外界温度、湿度、地面干燥度、灰尘等环境因素影响较大而适合环境条件好的场所使用。电阻式触摸屏对灰尘、水汽等环境因素的影响较小，因此更适合环境较复杂、恶劣的场所。对于许多工业平板计算机来说，其生产环境相对较差，一般需要安装电阻式触摸屏。

然而，电阻式触摸屏的生产厂商众多，如何快速的测试出各个厂商的电阻式触摸屏质量和寿命显得尤为重要。现有技术中，测试电阻式触摸屏寿命一般利用触摸屏寿命测试机，通过点击划线或敲击测试寿命，但是此种方法测试触摸屏寿命所需的时间较长，而且针对某一固定点或线测试误差较大。因此，如何能够快速、高效、准确的测试出触摸屏的寿命的方法，且通过该测试方法能从众多触摸屏厂商中选择出寿命较长、质量优越的触摸屏显得尤为重要。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种高效率、高精度的触摸屏的测试方法。

一种触摸屏寿命的测试方法，包括如下步骤：

提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠；

提供一待测屏，同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域；

提供一振动试验机台，将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上，所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试球置于所述开孔内；

所述振动试验机台振动；

每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常；

记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。

进一步地，所述开孔呈圆形且贯穿所述测试板的上下表面。

进一步地，所述测试珠为钢珠，所述测试珠的数量为多个且规格均相同，每一测试珠的直径为8mm，质量为0.002kg。

进一步地，所述测试区域呈圆形且所述测试区域的直径等于所述开孔的直径。

进一步地，通过固定架将所述待测屏和测试板固定于所述振动试验机台上。

进一步地，所述振动试验机台的振动方式为正弦振动，所述振动试验机台的振动频率为10Hz-40Hz。

进一步地，所述测试珠对待测屏的敲击力大于所述待测屏的触摸力范围,小于待测屏的最大承受力范围。

进一步地，所述测试珠对待测屏的敲击力为2.5N。

进一步地，检查所述待测屏的功能是否正常的方法为，用测试球在待测屏的所述测试区域上来回滚动并分析所述测试球划线的轨迹是否连续，若所述测试球每次画线的轨迹均连续则代表所述待测屏幕功能正常，若所述测试球画线轨迹出现断线或者非连续，且该断线或非连续区域内无论怎样均不能画出测试球的轨迹代表所述待测屏损坏。

进一步地，所述测试球的直径为25.4mm，质量为66g。