[发明专利]一种用于检测显示面板中像素电位的电路及方法、显示面板

权利要求书

1.一种用于检测显示面板中像素电位的电路，其特征在于，包括多路输出选择器、至少一个检测电路以及至少一个信号放大器；

所述检测电路包括一个第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的第一端接入测试信号，第二端与所述信号放大器连接，第三端与所述多路输出选择器连接；

所述多路输出选择器，与显示面板的第一数据线以及所述检测电路连接，用于根据时钟信号选择将待检测子像素单元连接的第一数据线与所述第一薄膜晶体管接通，以将所述待检测子像素单元的像素电位信号输送至所述第一薄膜晶体管，控制所述第一薄膜晶体管将所述测试信号输送至所述信号放大器；

所述信号放大器，用于接收所述测试信号，并将所述测试信号进行放大，转化为接收信号输出；

用于检测显示面板中像素电位的电路中薄膜晶体管的第一端为源极和漏极中的一个，第二端为源极和漏极中的另一个，第三端为栅极。

2.根据权利要求1所述的用于检测显示面板中像素电位的电路，其特征在于，所述多路输出选择器包括N组时钟信号线以及多个与所述显示面板中的第一数据线分别对应连接的第二薄膜晶体管，每一组时钟信号线包括三条时钟信号线；

所述显示面板中每相邻的3*N个第二薄膜晶体管分别与N组时钟信号线中不同的时钟信号线连接；

每一个第一薄膜晶体管对应连接相邻的3*N个第二薄膜晶体管；

其中，N≥1，第二薄膜晶体管的第一端与第一薄膜晶体管的第三端连接，第二薄膜晶体管的第二端与所述显示面板的第一数据线连接，第三端与时钟信号线连接。

3.根据权利要求2所述的用于检测显示面板中像素电位的电路，其特征在于，所述显示面板中的第一数据线总数量设为M，则所述检测电路和所述信号放大器的数量均为大于或等于M/(3*N)的最小整数，且所述第一薄膜晶体管与所述信号放大器之间一一对应连接。

4.根据权利要求2所述的用于检测显示面板中像素电位的电路，其特征在于，所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管均为N沟道薄膜晶体管。

5.根据权利要求1所述的用于检测显示面板中像素电位的电路，其特征在于，还包括信号分析模块；

所述信号分析模块，与所述信号放大器连接，用于接收所述信号放大器输出的所述接收信号，并根据所述接收信号的强度判断所述待检测子像素单元的像素电位。

6.一种显示面板，其特征在于，包括像素驱动电路和权利要求1～5任一项所述的用于检测显示面板中像素电位的电路；

所述像素驱动电路包括多条第一数据线、多条栅极线和三条子像素开关控制信号线，多条第一数据线与多条栅极线交叉形成阵列结构；相邻两条第一数据线与相邻两条栅极线形成的矩形区域为子像素单元，每一个子像素单元包括一个像素薄膜晶体管，所述像素薄膜晶体管的第一端与相邻的第一数据线连接，第三端与相邻的栅极线连接，且相互交叉的第一数据线和栅极线上最多连接一个像素薄膜晶体管；

每一条第一数据线均通过一个第三薄膜晶体管与子像素开关控制信号线连接，且每相邻的三条第一数据线分别接入三条不同的子像素开关控制信号线；

其中，所述第三薄膜晶体管的第三端与子像素开关控制信号线连接，第一数据线与第三薄膜晶体管的第一端连接，相邻的三个第三薄膜晶体管的第二端接入同一条第二数据线；像素驱动电路中薄膜晶体管的第一端为源极和漏极中的一个，第二端为源极和漏极中的另一个，第三端为栅极。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述像素驱动电路中所有的薄膜晶体管均为N沟道的薄膜晶体管。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，在显示面板工作时，用于检测显示面板中像素电位的电路中的时钟信号均为低电位。