[发明专利]一种用于检测显示面板中像素电位的电路及方法、显示面板

说明书

本发明提供一种用于检测显示面板中像素电位的电路及方法、显示面板，电路包括多路输出选择器、至少一个检测电路以及至少一个信号放大器；检测电路包括一个第一薄膜晶体管，第一薄膜晶体管接入测试信号并与多路输出选择器连接；多路输出选择器根据反向时钟信号选择将待检测子像素单元连接的第一数据线与第一薄膜晶体管接通，以将待检测子像素单元的像素电位信号输送至第一薄膜晶体管，控制第一薄膜晶体管将测试信号输送至信号放大器；信号放大器将所述测试信号进行放大，转化为接收信号输出。本发明可以测量显示面板中的真实像素电位。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种用于检测显示面板中像素电位的电路及方法、显示面板。

背景技术

现在常用的显示面板中AA区(即有效显示区)设计以及像素驱动电路(如图1所示)包括Gate走线(即栅极线)、Data走线(即第一数据线)、子像素单元以及多路分配器电路。Gate走线用来实现面板AA区子像素单元逐行扫描，Data走线用来给面板AA区的子像素单元充电，子像素单元用来显示面板中的图像、多路分配器电路用于实现显示面板中Data走线的多路输出选择。显示面板通过子像素单元中的电位来驱动液晶转动，以实现显示面板在显示不同画面下，所要求的不同程度的透过率，因此显示面板子像素单元中的真实电位状况是一个重要指标。但是在现在的面板设计方案中无法真实量测到显示面板子像素单元中的真实电位，因此，在问题解析等过程中，这种设计方案无法通过现有的设备获取子像素单元中的真实电位状况。由于现在的设计方案中没有设计探测子像素单元中真实电位的结构，因此无法准确获得显示面板中子像素单元的真实电位，也即是真实的像素电位。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种用于检测显示面板中像素电位的电路及方法、显示面板，可以测量显示面板中的真实像素电位。

本发明提供的一种用于检测显示面板中像素电位的电路，其特征在于，包括多路输出选择器、至少一个检测电路以及至少一个信号放大器；

所述检测电路包括一个第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的第一端接入测试信号，第二端与所述信号放大器连接，第三端与所述多路输出选择器连接；

所述多路输出选择器，与显示面板的第一数据线以及所述检测电路连接，用于根据反向时钟信号选择将待检测子像素单元连接的第一数据线与所述第一薄膜晶体管接通，以将所述待检测子像素单元的像素电位信号输送至所述第一薄膜晶体管，控制所述第一薄膜晶体管将所述测试信号输送至所述信号放大器；

所述信号放大器，用于接收所述测试信号，并将所述测试信号进行放大，转化为接收信号输出；

用于检测显示面板中像素电位的电路中薄膜晶体管的第一端为源极和漏极中的一个，第二端为源极和漏极中的另一个，第三端为栅极。

优选地，所述多路输出选择器包括N组反向时钟信号线以及多个与所述显示面板中的第一数据线分别对应连接的第二薄膜晶体管，每一组反向时钟信号线包括三条反向时钟信号线；

所述显示面板中每相邻的3*N个第二薄膜晶体管分别与N组反向时钟信号线中不同的反向时钟信号线连接；

每一个第一薄膜晶体管对应连接相邻的3*N个第二薄膜晶体管；

其中，N≥1，第二薄膜晶体管的第一端与第一薄膜晶体管的第三端连接，第二薄膜晶体管的第二端与所述显示面板的第一数据线连接，第三端与反向时钟信号线连接。

优选地，所述显示面板中的第一数据线总数量设为M，则所述检测电路和所述信号放大器的数量均为大于或等于M/(3*N)的最小整数，且所述第一薄膜晶体管与所述信号放大器之间一一对应连接。

优选地，所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管均为N沟道薄膜晶体管。

优选地，还包括信号分析模块；