[发明专利]动态轨检系统用单转向架校验装置有效
| 申请号： | 201711324187.0 | 申请日： | 2017-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN107894341B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 吴峻;李俊;周文武;汤钧元;李中秀;余佩倡 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01M17/08 | 分类号： | G01M17/08 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 邱轶 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 动态 系统 转向架 校验 装置 | ||
1.一种动态轨检系统用单转向架校验装置，其特征在于，包括：架设于待检测轨道(300)上的单转向架(100)、分设于所述单转向架(100)四顶角的悬浮控制器、用于检测所述待检测轨道(300)的动态轨检系统(200)和用于获取所述待检测轨道(300)振动数据，并处理所述动态轨检系统(200)的检测数据后，输出所述动态轨检系统(200)最大偏差值的所述检测校验平台，所述动态轨检系统(200)卡设于所述待检测轨道(300)的外侧；所述检测校验平台与所述悬浮控制器相连接。
2.根据权利要求1所述的动态轨检系统用单转向架校验装置，其特征在于，所述检测校验平台包括用于采集动态轨检系统数据的NI数据采集卡和用于对所得轨道数据进行处理的Labview平台，所述NI数据采集卡与所述动态轨检系统(200)相连接；
所述Labview平台与所述NI数据采集卡相连接。
3.根据权利要求2所述的动态轨检系统用单转向架校验装置，其特征在于，所述悬浮控制器输出正弦信号激励或方波信号激励。
4.根据权利要求3所述的动态轨检系统用单转向架校验装置，其特征在于，所述单转向架(100)上架设中低速磁浮列车。
5.根据权利要求1～4中任一项所述的动态轨检系统用单转向架校验装置，其特征在于，所述动态轨检系统(200)包括横梁主架(210)、用于检测轨道参数的测量传感器(400)、用于将所述动态轨检系统(200)夹紧所述待检测轨道(300)的左悬臂(230)和右悬臂(240)，所述左悬臂(230)和所述右悬臂(240)分别相对设置于所述横梁主架(210)两端，所述测量传感器(400)分别安装于所述左悬臂(230)和所述右悬臂(240)的相对面上。
6.根据权利要求5所述的动态轨检系统用单转向架校验装置，其特征在于，还包括用于使所述动态轨检系统(200)随所述单转向架(100)运动的左连接机构(231)和右连接机构(241)，所述左连接机构(231)将所述左悬臂(230)固定于所述横梁主架(210)的一端并夹紧所述待检测轨道(300)，所述右连接机构(241)将所述右悬臂(240)固定于所述横梁主架(210)的一端并夹紧所述待检测轨道(300)。
7.根据权利要求5所述的动态轨检系统用单转向架校验装置，其特征在于，所述动态轨检系统(200)还包括用于放置和固定陀螺仪、加速度计、倾角仪的惯性包(220)，所述惯性包(220)设置于所述横梁主架(210)中部。
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