[发明专利]动态轨检系统用单转向架校验装置有效
申请号: | 201711324187.0 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN107894341B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 吴峻;李俊;周文武;汤钧元;李中秀;余佩倡 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | G01M17/08 | 分类号: | G01M17/08 |
代理公司: | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人: | 邱轶 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 动态 系统 转向架 校验 装置 | ||
技术领域
本发明涉及中低速磁浮列车技术领域,具体的涉及测试中低速磁浮列车的动态轨检系统适应及跟踪测试F轨轨道的能力的校验系统,尤其涉及一种动态轨检系统用单转向架校验装置。
背景技术
用于记录中低速磁浮F轨轨道线路的不平顺数据的动态检测装置,该装置封装为一体常通过高强度螺栓安装在中低速磁浮列车尾车的转向架上,实现搭载式运行。整个检测装置与车辆无关联,且动态检测装置独立供电,不与列车发生电接触。中低速磁浮列车在正常行驶过程中,仅通过高强度螺栓与列车相连接的动态轨检系统的各个悬浮点会不同程度地产生振动,从而直接影响了动态轨检系统采集数据的准确性和精确性,导致轨道线路不平顺数据存在误差。
上述因素影响了对动态轨检系统性能的实时校验,而现有技术中没有针对动态轨检系统进行实时测试和校验的装置,因而无法了解所检测结果的误差率是否超过可信范围,降低了动态轨检系统所得数据的可信度。
发明内容
本发明的目的在于提供一种动态轨检系统用单转向架校验装置,该发明解决了现有技术无法对运行中的动态轨检系统进行实时校验和测试的技术问题。
本发明提供一种动态轨检系统用单转向架校验装置,包括:架设于待检测轨道上的单转向架、分设于单转向架四顶角的悬浮控制器、用于检测待检测轨道的动态轨检系统和用于获取待检测轨道振动数据并对动态轨检系统的检测数据进行分析处理后输出动态轨检系统最大偏差值的检测校验平台,动态轨检系统卡设于待检测轨道两相对外侧;检测校验平台与悬浮控制器相连接。
进一步地,检测校验平台包括用于采集动态轨检系统数据的NI数据采集卡和用于对所得轨道数据进行处理的Labview平台,NI数据采集卡与动态轨检系统相连接;Labview平台与NI数据采集卡相连接。
进一步地,悬浮控制器输出正弦信号激励或方波信号激励。
进一步地,单转向架上架设中低速磁浮列车。
进一步地,动态轨检系统包括横梁主架、用于检测轨道参数的测量传感器、用于将动态轨检系统夹紧待检测轨道的左悬臂和右悬臂,左悬臂和右悬臂分别相对设置于横梁主架两相对侧,测量传感器分别安装于左悬臂和右悬臂的相对面上。
进一步地,还包括用于使动态轨检系统随单转向架运动的左连接机构和右连接机构,左连接机构将左悬臂固定于横梁主架的一侧并加紧待检测轨道,右连接机构将右悬臂固定于横梁主架的一侧并加紧待检测轨道。
进一步地,动态轨检系统还包括用于放置和固定陀螺仪、加速度计、倾角仪的惯性包,惯性包设置于横梁主架中部。
本发明的技术效果:
本发明提供的动态轨检系统用单转向架校验装置,由检测校验平台通过悬浮控制器对连接动态轨检系统的单转向架输出正弦信号或方波信号激励后,将动态轨检系统所得结果实时记录于检测校验平台后,进行分析处理,得到动态轨检系统的实时最大偏差值,从而实现对动态轨检系统所得数据的实时校验。
具体请参考根据本发明的动态轨检系统用单转向架校验装置提出的各种实施例的如下描述,将使得本发明的上述和其他方面显而易见。
附图说明
图1是本发明提供动态轨检系统用单转向架校验装置立体示意图;
图2是本发明优选实施例中检测动态轨检系统立体示意图。
图例说明:
100、单转向架;200、动态轨检系统;210、横梁主架;220、惯性包;230、左悬臂;231、左连接机构;240、右悬臂;241、右连接机构;300、待检测轨道;400、测量传感器。
具体实施方式
构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。
参见图1,本发明提供的动态轨检系统用单转向架校验装置,包括:架设于待检测轨道300上的单转向架100、分设于单转向架100四顶角的悬浮控制器,卡设于待检测轨道300两相对外侧的动态轨检系统200和与悬浮控制器相连接的检测校验平台。
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