[发明专利]数字无线测隙规在审
申请号: | 201711349333.5 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN108225199A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | W.昂布里希特;B.巴斯勒 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 郭帆扬;杨美灵 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 叶片 测量位置 测隙规 光学传感器 厚度指示 数字无线 测量 近侧端部 | ||
1.一种测隙规,包括:
多个测隙叶片,其中,多个测隙叶片的各个测隙叶片围绕轴线在测量位置和非测量位置之间旋转,且所述多个测隙叶片中的各个包括:
测量部分,其构造成插入待测量的间隙中;和
近侧端部,在其上具有所述多个测隙叶片中的相应测隙叶片的厚度指示;以及
光学传感器,其从一个或多个测隙叶片的相应厚度指示来光学地确定展开在所述测量位置中的所述多个测隙叶片中的所述一个或多个测隙叶片。
2.根据权利要求1所述的测隙规,其特征在于,光学地确定展开的所述多个测隙叶片中的一个或多个测隙叶片包括,确定所述多个测隙叶片中的哪个保留在封装位置中,以间接地确定所述多个测隙叶片中的哪个已经被展开。
3.根据权利要求1所述的测隙规,其特征在于,所述厚度指示包括构造成阻挡光的障碍。
4.根据权利要求3所述的测隙规,其特征在于,所述光学传感器包括:
发射器,其构造成发射光;和
探测器,其构造成探测从所述发射器发射的光,除非所述多个测隙叶片中的测隙叶片的障碍阻挡从所述探测器发射的光。
5.根据权利要求3所述的测隙规,其特征在于,所述厚度指示包括布置在可能的孔地点的栅格中的多个孔,且所述障碍对应于在可能的孔地点不存在孔的地点。
6.根据权利要求5所述的测隙规,其特征在于,所述光学传感器包括构造成发射光的多个发射器,且其中,所述多个发射器中的各个发射器位于这样的位置中,该位置构造成将光传输至所述可能的孔地点中的一个可能的孔地点。
7.根据权利要求5所述的测隙规,其特征在于,所述多个测隙叶片中的各个测隙叶片具有在所述栅格内与所述多个测隙叶片中的其他测隙叶片的障碍不同的可能的地点处的障碍。
8.根据权利要求1所述的测隙规包括处理器,其构造成确定所述一个或多个测隙叶片的总体厚度。
9.根据权利要求1所述的测隙规包括陀螺仪,其构造成确定所述测隙规的定向。
10.根据权利要求9所述的测隙规包括显示器,其构造成显示所述一个或多个测隙叶片的总体厚度,其中,所述显示器构造成在所述定向不匹配对应于预期测量地点的预期定向时显示警告。
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