[发明专利]数字无线测隙规在审

专利信息
申请号: 201711349333.5 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN108225199A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: W.昂布里希特;B.巴斯勒 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郭帆扬;杨美灵
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 叶片 测量位置 测隙规 光学传感器 厚度指示 数字无线 测量 近侧端部
【说明书】:

发明涉及一种数字无线测隙规。具体而言,一种测隙规,包括多个测隙叶片和光学传感器。该多个测隙叶片中的各个围绕轴线在测量位置和非测量位置之间旋转。该多个测隙叶片中的各个包括:测量部分,其构造成插入待测量的间隙;以及近侧端部,其具有其上的相应测隙叶片的厚度指示。光学传感器从一个或多个测隙叶片中的各个的相应厚度指示来光学地确定展开在测量位置中的多个测隙叶片中的一个或多个。

技术领域

本文公开的主题涉及用于测量间隙或间隔的规,且更特别地涉及用于测量、记录和/或传输间隙或间隔数据的数字测隙规。

背景技术

测隙规在许多工业场景中广泛使用。例如,测隙规可用于联接的旋转设备中,诸如燃气、蒸汽、风力和水力涡轮系统,以精确地测量间隙或间隔。间隙或间隔的测量准确性可特别重要。例如,燃气涡轮系统和其他工业场景中的常规维护、振动减轻和过程优化可严重依赖此间隙或间隔的测量准确性。测隙规通常是手持装置,其具有若干堆叠的伸长测隙叶片(具有多种厚度)。测隙叶片中的一个或多个可延伸到测量位置中且用于测量间隙或间隔的厚度。测量然后通常由测隙规的用户确定和记录。典型测隙规的手动性质为测量、记录和传递间隙信息中的人为误差留有余地,且不允许快速电子访问当前和趋势间隙数据。此外,人为误差可在测量错误间隙或间隔时出现,而对下一工作步骤可能产生昂贵的结果。

发明内容

本文公开的某些实施例的概述在下文阐述。应当理解的是,这些方面仅呈现成为读者提供这些某些实施例的简要概述,且这些方面不意在限制该公开的范围。实际上,该公开可包含多种方面,其可不在下面阐述。

在第一实施例中,一种测隙规,包括多个测隙叶片和光学传感器系统。该多个测隙叶片中的各个围绕轴线在测量位置和非测量位置之间旋转。该多个测隙叶片中的各个包括:远侧端部,其构造成插入待测量的间隙;以及近侧端部,其具有其上的相应测隙叶片的厚度指示。光学传感器从该一个或多个测隙叶片中的各个的相应厚度指示光学地确定展开在测量位置中的该多个测隙叶片中的一个或多个。

在第二实施例中,一种有形非暂时性且计算机可读介质包含存储在其上的指令。当在处理器上执行时,指令构造成引起处理器从光学传感器接收信号,其指示展开在测量位置中的测隙规的一个或多个测隙叶片。指令还引起处理器至少部分地基于信号来确定该一个或多个测隙叶片的总体厚度。此外,指令引起处理器来引起经由电子显示器的总体厚度的显示。

在第三实施例中,一种构造成测量间隙的厚度的测隙规,包括壳体和多个测隙叶片。该多个测隙叶片构造成围绕轴线在测量位置和封装位置之间旋转。该多个测隙叶片中的各个测隙叶片包括相测隙叶片的厚度的光学指示。测隙规包括:光学传感器,其构造成探测厚度的光学指示;和定向传感器,其构造成探测测隙规的定向。测隙规包括显示器,其构造成显示该多个测隙叶片处于测量位置中的测隙叶片的总体厚度。

技术方案1. 一种测隙规,包括:

多个测隙叶片,其中,多个测隙叶片的各个测隙叶片围绕轴线在测量位置和非测量位置之间旋转,且所述多个测隙叶片中的各个包括:

测量部分,其构造成插入待测量的间隙中;和

近侧端部,在其上具有所述多个测隙叶片中的相应测隙叶片的厚度指示;以及

光学传感器,其从所述一个或多个测隙叶片的相应厚度指示来光学地确定展开在所述测量位置中的所述多个测隙叶片中的一个或多个测隙叶片。

技术方案2. 根据技术方案1所述的测隙规,其特征在于,光学地确定展开的所述多个测隙叶片中的一个或多个测隙叶片包括,确定所述多个测隙叶片中的哪个保留在封装位置中,以间接地确定所述多个测隙叶片中的哪个已经被展开。

技术方案3. 根据技术方案1所述的测隙规,其特征在于,所述厚度指示包括构造成阻挡光的障碍。

技术方案4. 根据技术方案3所述的测隙规,其特征在于,所述光学传感器包括:

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