[发明专利]采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统

权利要求书

1.一种采样方法，用于对显示基板上设置的像素单元进行采样，其特征在于，该方法包括：

控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；其中，

每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板上一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；

控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，

在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当控制器收到处理器发送的采样模式选择信号时，执行控制多个采样模块同时开启的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；

其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述控制器、采样模块设置在同一采样芯片中，该方法还包括：

当所述控制器确定所属的采样芯片完成采样后，该所述控制器向与该控制器所属的采样芯片级联的下一个采样芯片中的控制器发送级联控制信号，使得下一个采样芯片中的控制器控制所述下一个采样芯片中的多个采样模块依次开启。

5.一种采样控制方法，其特征在于，该方法包括：

处理器确定需要控制器工作在采样模式；

处理器向所述控制器发送采样模式选择信号，用以使得所述控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的像素单元的亮度信息；其中，每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板中一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；以及，使得控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样模块的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

处理器确定需要控制器工作在校准模式；

处理器向所述控制器发送校准模式选择信号，用以使得所述控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

处理器在第一时长后获取控制器控制的采样模块中保存的、来自各个采样通道的采样结果；

处理器向控制器发送输出指令信号，从而获取所述控制器控制的各个所述采样模块保存的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

其中，所述第一时长大于或等于所述控制器控制的所有采样模块对应的采样通道完成采样的时长。