[发明专利]采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统

说明书

本申请公开了一种采样方法、采样控制方法、采样装置、采样控制装置、采样控制系统及显示装置，用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。本申请提供的一种采样方法，用于对显示基板上设置的像素单元进行采样，该方法包括：控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块。

技术领域

本申请涉及电学领域，尤其涉及一种采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统。

背景技术

当前，显示面板技术，例如有机电致发光面板(Organic Light-Emitting Diode,OLED)技术面临的一大问题是显示面板中各个像素单元的亮度不一致，导致显示面板亮度不均匀，现有技术中通过电学补偿技术对各个像素单元的亮度进行调整。电学补偿技术是通过驱动芯片中的采样模块对各个像素单元进行采样，获取像素单元的亮度信息，再将亮度信息输入到时序控制模块(Timing Controller，T-CON)对像素单元进行亮度调整。而随着驱动芯片集成度越来越高，显示面板的解析度也越来越高，相应地，对驱动芯片采样像素单元的亮度信息的采样速度要求也越来越高，现有技术采用驱动芯片中的采样模块依次对每个像素单元进行采样的方式，需要的采样时间较长。

发明内容

本申请实施例提供了一种一种采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统，用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。

本申请实施例提供一种采样方法，用于对显示基板上设置的像素单元进行采样，该方法包括：

控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；其中，

每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板上一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；

控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，

在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

本申请实施例提供的上述采样方法，通过控制多个采样模块同时对各采样模块对应的像素单元进行亮度信息的采样，用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，当控制器收到处理器发送的采样模式选择信号时，执行控制多个采样模块同时开启的步骤。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，该方法还包括：

当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；

其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，各个所述采样通道的输入端的输入信号相同，均为同一校准源提供的标准信号。