[发明专利]一种IC封装工艺在审

专利信息
申请号: 201711361080.3 申请日: 2017-12-18
公开(公告)号: CN108807192A 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 何忠亮;王华祖;张旭东;李亮;徐光泽;沈正;罗再成 申请(专利权)人: 深圳市环基实业有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L33/48;H01L33/52
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摘要:
搜索关键词: 透光基片 封装体 产品封装 电极粘附 封装工艺 绿色生产 电测 制程 封装 集成电路 剥离 分割 节约 优化
【说明书】:

本公开揭示了一种IC封装工艺,包括:S1、利用胶将电极粘附在透光基片以构成IC封装载板;S2、对所述IC封装载板进行IC封装形成封装体;S3、降低所述胶的粘性,以使得所述透光基片与所述封装体分离;S4、对封装体进行表面处理、电测、分割或包装,完成IC封装制程。本公开优化了封装工艺,产品封装后,透光基片与封装后的集成电路易于剥离,有利于节约成本和绿色生产。

技术领域

本公开属于电子技术领域,特别涉及一种IC封装工艺。

背景技术

方形扁平无引脚封装(Quad Flat No-lead Package,QFN)技术是一种重要的集成电路封装工艺,具有表面贴装式封装,焊盘尺寸小、体积小、占有PCB区域小、元件厚度薄、非常低的阻抗、自感,可满足高速或者微波的应用等优点。由于底部中央的大面积裸露焊盘被焊接到PCB的散热焊盘上,使得QFN具有极佳的电和热性能。但缺点在于QFN中部向四周连续布线,线宽受限于铜厚、且难以设计孤岛电极,增加I/0数会带来的生产成本和可靠性问题,限制了芯片和PCB板的设计自由度。相比较而言球栅阵列芯片封装技术(Ball Grid Array.BGA)可增加I/O数和间距,在设计上较QFN更为灵活,但工艺检修困难,对PCB板工艺要求更高,不适用于可靠性要求高的器件的封装及产业效率的提高。

受蚀刻能力的限制, LED EMC支架与倒装基板的生产精度和密度都会有所限制。而 LED 被要求高度集成,低的光成本及高可靠性,EMC支架及倒装CSP基板的加工能力受到较大的挑战。

发明内容

针对现有技术的不足,本公开提出了一种IC封装工艺,所述工艺包括以下步骤:

S1、利用胶将电极粘附在透光基片上以构成IC封装载板;

S2、对所述IC封装载板进行IC封装形成封装体;

S3、降低所述胶的粘性,以使得所述透光基片与所述封装体分离;

S4、对封装体进行表面处理、电测、分割或包装,完成IC封装制程。

本公开具有以下有益效果:

1、可以使载板与IC封装体较容易地分离,同时不会由于使用传统技术中的蚀刻工艺而造成金属的损失。从整体上降低蚀刻的药剂成本、贵金属损失成本以及对于蚀刻废弃物处理的成本。

2、本公开优化了封装工艺,产品封装后,透光基片与封装后的集成电路易于剥离,有利于节约成本和绿色生产,不需在封装厂和基板厂两者间反复的工件流转,从而缩短加工周期,工序间的控制更加顺畅。

3、产品可在封装后再剥离,固晶不需特殊治具,极大提高了工作效率和良品率。

附图说明

图1 为本公开的一个实施例中IC分切后的封装载板截面图;

图2为本公开的一个实施例中蚀刻后的封装载板截面图;

图3为本公开的一个实施例中打线封装后的封装载板截面图;

图4 为本公开的一个实施例中紫外光照射示意图;

图5为本公开的另一个实施例中IC分切后的封装载板截面图;

图6 为本公开的另一个实施例中蚀刻后的封装载板截面图;

图7 为本公开的另一个实施例中打线封装后的封装载板截面图;

图8为本公开的另一个实施例中紫外光照射示意图;

图9为本公开的另一个实施例中光电封装的示意图;

其中:1-芯片,2-封装树脂,3-键合线,4-IC底座,5-I型电极,5’-T型电极,6-光敏胶,7-透光基片,8-防止光照射保护层。

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