[发明专利]一种芯片测试模式进入方法、进入系统及芯片有效
| 申请号： | 201711364016.0 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN108196181B | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 胡建伟;黄建刚;罗旭程;程剑涛 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆宗力;王宝筠 |
| 地址： | 201199 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 模式 进入 方法 系统 | ||
1.一种芯片测试模式进入方法，其特征在于，应用于芯片，所述芯片具有数据端口和时钟端口，所述芯片测试模式进入方法包括：
获取所述数据端口的输入电压；
判断所述输入电压是否满足第一测试条件，如果是，则判断所述数据端口接收的数据信号是否满足第二测试条件，若是，则进入测试模式，若否，则返回获取所述数据端口的输入电压的步骤；
所述第一测试条件包括：所述输入电压处于预设电压范围，且持续时间超过预设阈值；
所述第二测试条件包括：在所述时钟端口接收到前预设数量的时钟信号的过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码一致，其中，所述预设数量的取值范围为3个-10个，包括端点值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设数量的取值为5个。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设电压范围的取值范围为6.5V-7.0V，包括端点值。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设电压范围的取值为6.5V。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设阈值的取值范围为100μs±5μs，包括端点值。
6.一种芯片测试模式进入系统，其特征在于，应用于芯片，所述芯片具有数据端口和时钟端口，所述芯片测试模式进入系统包括：
输入电压获取模块，用于获取所述数据端口的输入电压；
测试条件判断模块，用于判断所述输入电压是否满足第一测试条件，如果是，则判断所述数据端口接收的数据信号是否满足第二测试条件，若是，则进入测试模式，若否，则返回获取所述数据端口的输入电压的步骤；
所述第一测试条件包括：所述输入电压处于预设电压范围，且持续时间超过预设阈值；
所述第二测试条件包括：在所述时钟端口接收到前预设数量的时钟信号的过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码一致，其中，所述预设数量的取值范围为3个-10个，包括端点值。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述预设电压范围的取值范围为6.5V-7.0V，包括端点值。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述预设电压范围的取值为6.5V。
9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述预设阈值的取值范围为100μs±5μs，包括端点值。
10.一种芯片，包括数据端口和时钟端口，其特征在于，还包括：如权利要求6-9任一项所述的芯片测试模式进入系统。
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