[发明专利]一种芯片测试模式进入方法、进入系统及芯片

说明书

本申请公开了一种芯片测试模式进入方法、进入系统及芯片，其中，所述芯片测试模式进入方法首先获取数据端口的输入电压，然后判断所述输入电压是否满足第一测试条件，这是因为在芯片正常工作时，输入电压满足第一测试条件是芯片进入测试模式的一个必要条件，在此必要条件满足后，判断在所述时钟端口接收到前预设数量的时钟信号的过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码是否一致，只有在前预设数量的时钟信号的接收过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码一致才使所述芯片进入测试模式，这样通过两个测试条件的设置，可以在极大程度上降低芯片正常使用过程中出现误进入测试模式的可能。

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，更具体地说，涉及一种芯片测试模式进入方法、进入系统及芯片。

背景技术

芯片(Integrated Circuit，IC)，也称为集成电路，是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

在芯片封装完成之后，出厂之前，还需要对芯片进行芯片测试，以计算芯片的参数，判断芯片是否合格。芯片测试是保证出厂的每一颗芯片都满足芯片的规格要求的必要手段。为了便于芯片的测试，并且减少芯片的测试时间，节约测试成本，需要在芯片内部设计芯片测试模式进入系统，在芯片进入测试模式后对芯片的各项特性参数进行测试。芯片测试模式进入系统不能影响芯片的正常工作。

在现有技术中，通过设置于芯片内部的芯片测试模式进入系统来使芯片进入测试模式的过程通常为：通过对时钟端口加时钟信号，对数据端口加特定的数据信号，当采集到的数据信号和芯片设定的信号密码一致时，芯片测试模式进入系统使芯片进入测试模式。但是在芯片在出厂后的正常使用过程中，由于芯片应用的场合各异，有可能出现在数据端口接收到的某一段工作信号与设定的信号密码一致，而导致芯片误进入测试模式的情况。这种在正常工作时误进入测试模式的情况，会导致芯片无法正常工作，属于芯片的质量事故，在芯片设计时需要避免。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种芯片测试模式进入方法、进入系统及芯片，以实现大幅降低在芯片正常使用过程中出现误进入测试模式的可能的目的。

为实现上述技术目的，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种芯片测试模式进入方法，应用于芯片，所述芯片具有数据端口和时钟端口，所述芯片测试模式进入方法包括：

获取所述数据端口的输入电压；

判断所述输入电压是否满足第一测试条件，如果是，则判断所述数据端口接收的数据信号是否满足第二测试条件，若是，则进入测试模式，若否，则返回获取所述数据端口的输入电压的步骤；

所述第一测试条件包括：所述输入电压处于预设电压范围，且持续时间超过预设阈值；

所述第二测试条件包括：在所述时钟端口接收到前预设数量的时钟信号的过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码一致，其中，所述预设数量的取值范围为3个-10个，包括端点值。

可选的，所述预设数量的取值为5个。

可选的，所述预设电压范围的取值范围为6.5V-7.0V，包括端点值。

可选的，所述预设电压范围的取值为6.5V。

可选的，所述预设阈值的取值范围为100μs±5μs，包括端点值。

一种芯片测试模式进入系统，应用于芯片，所述芯片具有数据端口和时钟端口，所述芯片测试模式进入系统包括：

输入电压获取模块，用于获取所述数据端口的输入电压；