[发明专利]一种读写速度的测试方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种读写速度的测试方法，其特征在于，所述方法应用于电子设备，所述方法包括：

获取多个存储器中每个存储器读写数据的测试速度，所述多个存储器包括随机存储器和与所述随机存储器关联的至少一个缓冲存储器；

确定所述多个存储器读写数据的所述测试速度的加权平均值，将所述加权平均值作为所述随机存储器读写数据的实际速度。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取多个存储器中每个存储器读写数据的测试速度包括：

对所述每个存储器进行多次测试，获取每次测试的测试结果；

计算多次测试的所述测试结果的平均值作为所述每个存储器读写数据的所述测试速度。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取每次测试的测试结果包括：

获取每次测试所述每个存储器的数据大小、以及所述每个存储器读写所述数据大小的数据所需要的时长；

根据所述数据大小与所述时长，确定所述每个存储器的每次测试的所述测试结果。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述数据大小与所述时长，确定所述每个存储器的每次测试的测试结果包括：

将所述数据大小除以所述时长的值作为所述每个存储器的每次测试的测试结果。

5.如权利要求2-4任一项所述的方法，其特征在于，所述获取每次测试的测试结果包括：

使用两个线程同时测试所述每个存储器读写数据的测试分速度；

获取所述两个线程中的每个线程所测试到的所述测试分速度；

计算所述两个线程所测试到的所述测试分速度之和作为所述每个存储器的所述测试结果。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述两个线程使用了线程锁。

7.一种读写速度的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

测试速度获取模块，用于获取多个存储器中每个存储器读写数据的测试速度，所述多个存储器包括随机存储器和与所述随机存储器关联的至少一个缓冲存储器；

实际速度计算模块，用于确定所述多个存储器读写数据的所述测试速度的加权平均值，将所述加权平均值作为所述随机存储器读写数据的实际速度。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述测试速度获取模块具体用于：

对所述每个存储器进行多次测试，获取每次测试的测试结果；

计算多次测试的所述测试结果的平均值作为所述每个存储器读写数据的所述测试速度。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述测试速度获取模块具体用于：

获取每次测试所述每个存储器的数据大小、以及所述每个存储器读写所述数据大小的数据所需要的时长；

根据所述数据大小与所述时长，确定所述每个存储器的每次测试的所述测试结果。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述测试速度获取模块具体用于：

将所述数据大小除以所述时长的值作为所述每个存储器的每次测试的测试结果。

11.如权利要求8-10任一项所述的装置，其特征在于，所述测试速度获取模块具体用于：

使用两个线程同时测试所述每个存储器读写数据的测试分速度；

获取所述两个线程中的每个线程所测试到的所述测试分速度；

计算所述两个线程所测试到的所述测试分速度之和作为所述每个存储器的所述测试结果。

12.如权利要求11所述的装置，其特征在于，所述两个线程使用了线程锁。