[发明专利]一种读写速度的测试方法、装置及电子设备

说明书

本发明公开了一种读写速度的测试方法，包括：首先获取多个存储器中每个存储器读写数据的测试速度，所述多个存储器包括随机存储器和与所述随机存储器关联的至少一个缓冲存储器；然后根据所述每个存储器读写数据的所述测试速度，确定所述随机存储器读写数据的实际速度。本发明实施例还公开了一种读写速度的测试装置及电子设备。采用本发明实施例，可以更准确的测试出随机存储器的读写速度。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种读写速度的测试方法、装置及电子设备。

背景技术

随着智能手机的普及，手机厂商越来越多，提供的中央处理器(CentralProcessing Unit,CPU)和随机存储器的厂商有三星、高通、英特尔、华为、海力士以及美光等。随机存储器和CPU缓冲存储器的读写速度决定了手机运行速度，然而它们的来源和种类的多样化大大增加了用户选取一部性能优越的手机的难度。现有技术在测试评估随机存储器的读写速度时，仅单独测试了随机存储器的读写速度而忽略CPU的缓冲存储器对随机存储器读写速度的影响，不能准确反映随机存储器的实际读写速度。

发明内容

本发明实施例提供一种读写速度的测试方法、装置及电子设备。可以更准确的测试出随机存储器读写速度。

本发明第一方面提供了一种读写速度的测试方法，包括：

获取多个存储器中每个存储器读写数据的测试速度，所述多个存储器包括随机存储器和与所述随机存储器关联的至少一个缓冲存储器；

根据所述每个存储器读写数据的所述测试速度，确定所述随机存储器读写数据的实际速度。

其中，所述根据所述每个存储器读写数据的所述测试速度，确定所述随机存储器读写数据的实际速度包括：

计算所述每个存储器读写数据的所述测试速度的加权平均值；

将所述加权平均值作为所述随机存储器读写数据的所述实际速度。

其中，所述获取多个存储器中每个存储器读写数据的测试速度包括：

对所述每个存储器进行多次测试，获取每次测试的测试结果；

计算多次测试的所述测试结果的平均值作为所述每个存储器读写数据的所述测试速度。

其中，所述获取每次测试的测试结果包括：

获取每次测试所述每个存储器的数据大小、以及所述每个存储器读写所述数据大小的数据所需要的时长；

根据所述数据大小与所述时长，确定所述每个存储器的每次测试的测试结果。

其中，所述根据所述数据大小与所述时长，确定所述每个存储器的每次测试的测试结果包括：

将所述数据大小除以所述时长的值作为所述每个存储器的每次测试的测试结果。

其中，所述获取每次测试的测试结果包括：

使用两个线程同时测试所述每个存储器读写数据的测试分速度；

获取所述两个线程中的每个线程所测试到的所述测试分速度；

计算所述两个线程所测试到的所述测试分速度之和作为所述每个存储器的所述测试结果。

其中，所述两个线程使用了线程锁。

相应地，本发明第二方面提供了一种读写速度的测试装置，包括：

测试速度获取模块，用于获取多个存储器中每个存储器读写数据的测试速度，所述多个存储器包括随机存储器和与所述随机存储器关联的至少一个缓冲存储器；