[发明专利]一种可控硅脉冲故障检测仪在审
申请号: | 201711382060.4 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108226738A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 庞晓柯 | 申请(专利权)人: | 郑州舒柯科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 深圳茂达智联知识产权代理事务所(普通合伙) 44394 | 代理人: | 胡慧 |
地址: | 450000 河南省郑州市河南自贸试验*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 可控硅脉冲 电阻 故障检测仪 二极管 检测结果 三极管 点亮 继电器 集成电路IC 基极连接 绿色发光 信号通过 直接检测 电容 电源 发光 直观 检测 | ||
1.一种可控硅脉冲故障检测仪,包括电源VDD、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C、集成电路IC、二极管D1、二极管D2、继电器J、三极管BG1、发光二极管LED1和发光二极管LED2;其特征在于,可控硅脉冲输入信号通过所述电阻R1与所述三极管BG1的基极连接;所述可控硅脉冲输入信号正常时,所述发光二极管LED1点亮且为绿色;所述可控硅脉冲输入信号消失或者漏掉较多时,所述发光二极管LED2点亮且为红色。
2.根据权利要求1所述的可控硅脉冲故障检测仪,其特征在于,当检测到可控硅脉冲输入信号故障时,能够通过所述继电器J的触点控制故障电路的工作状态。
3.根据权利要求1所述的可控硅脉冲故障检测仪,其特征在于,所述三极管BG1饱和导通时,所述电容C通过所述二极管D1进行充电电压自放电。
4.根据权利要求1所述的可控硅脉冲故障检测仪,其特征在于,所述电源VDD电压为DC12V。
5.根据权利要求1所述的可控硅脉冲故障检测仪,其特征在于,所述集成电路IC为555芯片。
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