[发明专利]一种可控硅脉冲故障检测仪

说明书

本发明公开了一种可控硅脉冲故障检测仪，包括电源VDD、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C、集成电路IC、二极管D1、二极管D2、继电器J、三极管BG1、发光二极管LED1和发光二极管LED2；可控硅脉冲输入信号通过所述电阻R1与所述三极管BG1的基极连接；所述可控硅脉冲输入信号正常时，所述发光二极管LED1点亮且为绿色；所述可控硅脉冲输入信号消失或者漏掉较多时，所述发光二极管LED2点亮且为红色。本发明通过对可控硅脉冲输入信号进行直接检测，其检测结果用发光二极管LED1绿色发光表示正常，发光二极管LED2红色发光表示故障；检测过程直接高效、精准，检测结果显示直观；精巧方便、简单实用，且能够自动进行指示。

技术领域

本发明涉及到可控硅检测领域，尤其涉及到一种可控硅脉冲故障检测仪。

背景技术

可控硅，是可控硅整流元件的简称，是一种具有三个PN结的四层结构的大功率半导体器件，亦称为晶闸管。具有体积小、结构相对简单、功能强等特点，是比较常用的半导体器件之一。该器件被广泛应用于各种电子设备和电子产品中，多用来作可控整流、逆变、变频、调压、无触点开关等。

可控硅作为工控设备中的重要组成部分，一旦出现故障，往往会导致系统效率下降或者停止运行，严重的甚至会造成设备自身的损坏。

目前对可控硅故障的检测多为示波器或者测电阻等方式，这些不够高效直接，导致判断结果不理想。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明提供一种可控硅脉冲故障检测仪,解决的不够高效直接，导致判断结果不理想问题。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

一种可控硅脉冲故障检测仪，包括电源VDD、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C、集成电路IC、二极管D1、二极管D2、继电器J、三极管BG1、发光二极管LED1和发光二极管LED2；可控硅脉冲输入信号通过所述电阻R1与所述三极管BG1的基极连接；所述可控硅脉冲输入信号正常时，所述发光二极管LED1点亮且为绿色；所述可控硅脉冲输入信号消失或者漏掉较多时，所述发光二极管LED2点亮且为红色。

优选的技术方案，当检测到可控硅脉冲输入信号故障时，能够通过所述继电器J的触点控制故障电路的工作状态。

优选的技术方案，所述三极管BG1饱和导通时，所述电容C通过所述二极管D1进行充电电压自放电。

优选的技术方案，所述电源VDD电压为DC12V。

优选的技术方案，所述集成电路IC为555芯片。

相对于现有技术的有益效果是，采用上述方案，本发明通过对可控硅脉冲输入信号进行直接检测，其检测结果用发光二极管LED1绿色发光表示正常，发光二极管LED2红色发光表示故障；检测过程直接高效、精准，检测结果显示直观；精巧方便、简单实用，且能够自动进行指示。

附图说明

为了更清楚的说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需使用的附图作简单介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的一种可控硅脉冲故障检测仪电路原理图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面结合附图和具体实施例，对本发明进行更详细的说明。附图中给出了本发明的较佳的实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。