[发明专利]一种LED芯片在审

专利信息
申请号: 201711382451.6 申请日: 2017-12-20
公开(公告)号: CN108063177A 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: 尹晓雪 申请(专利权)人: 西安智盛锐芯半导体科技有限公司
主分类号: H01L33/48 分类号: H01L33/48;H01L33/50;H01L33/58;H01L33/60;H01L33/62
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 黄晶晶
地址: 710075 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 led 芯片
【权利要求书】:

1.一种LED芯片,其特征在于,包括,

衬底层(11);

灯芯层,所述灯芯层包括生长在所述衬底层(11)上的蓝光外延层,所述蓝光外延层中分别设置相邻的红光灯芯槽和绿光灯芯槽,所述红光灯芯槽内设置红光外延层,所述绿光灯芯槽内设置绿光外延层;

所述蓝光外延层、红光外延层和绿光外延层的上表面设置增透膜(1001);

电极,所述电极包括上电极(51)和下电极(52),所述上电极(51)设置在所述增透膜(1001)上。

2.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述蓝光外延层自下向上依次包括:GaN缓冲层(101)、GaN稳定层(102)、掺Si的n型GaN层(103)、由InGaN/GaN多量子阱结构形成的有源层(104)、p型AlGaN阻挡层(105)、p型GaN接触层(106)。

3.根据权利要求2所述的LED芯片,其特征在于,所述红光外延层自下向上依次包括:GaN缓冲层(401)、n型GaAs缓冲层(402)、n型GaAs稳定层(403)、由GalnP/A1GaInP多量子阱结构形成的有源层(404)、p型A1GaInP阻挡层(405)和p型GaAs接触层(406);

所述绿光外延层自下向上依次包括:GaN缓冲层(201)、n型GaAs缓冲层(202)、n型GaAs稳定层(203)、由GalnP/A1GaInP多量子阱结构形成的有源层(204)、p型A1GaInP阻挡层(205)和p型GaAs接触层(206)。

4.根据权利要求3所述的LED芯片,其特征在于,所述红光灯芯槽和所述绿光灯芯槽相连接,且所述红光灯芯槽和所述绿光灯芯槽分别以所述蓝光外延层的所述GaN缓冲层(101)为槽底。

5.根据权利要求4所述的LED芯片,其特征在于,所述上电极(51)分别设置在所述蓝光外延层、所述红光外延层和所述绿光外延层所在区域对应的增透膜(1001)的上表面;

所述下电极(52)设置于所述蓝光外延层的所述GaN稳定层(102)上。

6.根据权利要求4所述的LED芯片,其特征在于,所述蓝光外延层上、所述红光灯芯槽内和所述绿光灯芯槽内分别设置一对上电极(51)和下电极(52)。

7.根据权利要求6所述的LED芯片,其特征在于,所述增透膜(1001)为TiO2材料制成,且所述增透膜(1001)的厚度为透射光波长的1/4。

8.根据权利要求6所述的LED芯片,其特征在于,所述红光灯芯槽和所述绿光灯芯槽为矩形槽,边长的范围为:大于50微米,小于300微米。

9.根据权利要求6所述的LED芯片,其特征在于,所述红光灯芯槽的槽壁和所述绿光灯芯槽的槽壁均由SiO2层构成,所述SiO2层的厚度介于20-100纳米之间。

10.根据权利要求2所述的LED芯片,其特征在于,所述由InGaN/GaN多量子阱结构形成的有源层(104)中,所述InGaN的厚度范围为1.5-3.5纳米,其中In的含量范围为10-20%;所述GaN的厚度范围为5-10纳米。

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