[发明专利]一种试件内部缺陷的检测装置在审
| 申请号： | 201711384488.2 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108088566A | 公开（公告）日： | 2018-05-29 |
| 发明（设计）人： | 董丽虹;郭伟;王海斗;邢志国;徐滨士;马润波;向明;靖建农;徐雅薇 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军陆军装甲兵学院 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01N21/88;G01N21/59 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100191 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 罩壳 热像仪 发热源 透射 试件 检测装置 内部缺陷 安装孔 底座 缺陷检测技术 镜头对准 相对设置 罩壳罩 检测 侧壁 下端 埋藏 照射 闪光 敞开 清晰 | ||
1.一种试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：包括底座、罩壳、发热源和第一热像仪，所述罩壳的下端敞开，且所述罩壳罩设于所述底座上，待检测的试件放置于所述罩壳内；所述罩壳的侧壁上设有第一安装孔，所述第一热像仪安装于所述第一安装孔内，且所述第一热像仪的镜头对准待检测的试件；所述发热源设于所述罩壳的内部，且所述发热源与所述第一热像仪相对设置，所述发热源用于对待检测的试件的表面进行均匀加热。
2.根据权利要求1所述的试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：所述罩壳的侧壁上设有第二安装孔，所述第二安装孔与所述第一安装孔正对，所述第二安装孔内设有第二热像仪，所述第二热像仪的镜头对准待检测的试件。
3.根据权利要求2所述的试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：所述发热源的数量为多个，多个所述发热源对称的设于所述第二热像仪的两侧。
4.根据权利要求1所述的试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：所述罩壳的形状为圆筒形。
5.根据权利要求1所述的试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：所述发热源为卤素灯或疝气灯。
6.根据权利要求1所述的试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：所述底座上设有试样台，所述试样台用于放置待检测试件。
7.根据权利要求4所述的试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：所述罩壳的下端设有第一滑槽，所述底座的上表面设有与所述第一滑槽配合的环形滑块。
8.根据权利要求4所述的试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：所述底座的上表面设有环形滑槽，所述罩壳的下端可转动的设于所述环形滑槽内。
9.根据权利要求1-8任一项所述的试件内部缺陷的检测装置，其特征在于：所述罩壳的上端设有顶盖，所述顶盖与所述罩壳扣合。
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