[发明专利]一种试件内部缺陷的检测装置

说明书

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种试件内部缺陷的检测装置，包括底座、罩壳、发热源和第一热像仪，罩壳的下端敞开，且罩壳罩设于底座上，待检测的试件放置于罩壳内，罩壳的侧壁上设有第一安装孔，第一热像仪安装于第一安装孔内，热像仪的镜头对准罩壳的内部，发热源设于罩壳的内部，且发热源与第一热像仪相对设置。在使用时，发热源在一侧对罩壳内的待检测的试件进行闪光照射，第一热像仪在另一侧获取透射热图，由于有缺陷的地方，热量的透射会受到影响，因此通过热像仪上的透射热图即可对缺陷的位置和尺寸进行清楚的判断，即使是缺陷埋藏的深度较深，依然能够获取较为清晰的透射热图。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种试件内部缺陷的检测装置。

背景技术

脉冲热像检测技术是利用大功率热灯(可以是卤素灯或氙气灯)对检测对象表面进行闪光照射，在此过程中使用红外热像仪记录检测对象表面温度分布和变化过程。

目前该检测方法一般都基于表层或次表层缺陷对热量的反射机制进行检测，即激励面与检测面(热图采集面)为检测对象的同一个表面，两个热灯按一定角度布置在零件表面上方，红外热像仪布置在零件正上方，两个热灯中间。热灯进行脉冲闪光，对零件表面进行激励后，表面热量内部传导，遇到内部缺陷反射回上表面，导致缺陷位置上表面温度升高，热像仪采集表面温度分布图(热图)，对缺陷位置和尺寸进行判断。根据热传导规律，对于薄壁类结构零件的缺陷，如果其内部缺陷埋藏深度超过薄壁零件厚度的一半，反射热量的传导距离1.5d将会大于透射热量的传导距离d。基于反射模式的热量分布图受横向热传导的影响更大，反射热图对缺陷的分辨能力将会减弱。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是解决当试件的内部缺陷埋藏较深时，利用反射模式得到的反射热图对缺陷的分辨能力较弱的问题。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种试件内部缺陷的检测装置，包括底座、罩壳、发热源和第一热像仪，所述罩壳的下端敞开，且所述罩壳罩设于所述底座上，待检测的试件放置于所述罩壳内；所述罩壳的侧壁上设有第一安装孔，所述第一热像仪安装于所述第一安装孔内，且所述第一热像仪的镜头对准待检测的试件；所述发热源设于所述罩壳的内部，且所述发热源与所述第一热像仪相对设置，所述发热源用于对待检测的试件的表面进行均匀加热。

其中，所述罩壳的侧壁上设有第二安装孔，所述第二安装孔与所述第一安装孔正对，所述第二安装孔内设有第二热像仪，所述第二热像仪的镜头对准待检测的试件。

其中，所述发热源的数量为多个，多个所述发热源对称的设于所述第二热像仪的两侧。

其中，所述罩壳的形状为圆筒形。

其中，所述发热源为卤素灯或疝气灯。

其中，所述底座上设有试样台，所述试样台用于放置待检测试件。

其中，所述罩壳的下端设有第一滑槽，所述底座的上表面设有与所述第一滑槽配合的环形滑块。

其中，所述底座的上表面设有环形滑槽，所述罩壳的下端可转动的设于所述环形滑槽内。

其中，所述罩壳的上端设有顶盖，所述顶盖与所述罩壳扣合。

(三)有益效果