[发明专利]NOR闪存及其制作方法

说明书

本发明公开了一种NOR闪存及其制作方法，该闪存包括存储单元，其包括层叠的栅极结构，该结构依次包括外延层、隧穿氧化层、浮栅、层间介质层、控制栅，浮栅和隧穿氧化层之间的界面形成浮栅边角，所述浮栅边角为圆滑形貌。该制作方法，包括在晶圆上形成存储单元的步骤，完成晶圆源极自对准刻蚀和离子注入的步骤；对晶圆进行第一次快速热处理，使存储单元的浮栅边缘形成一层二氧化硅薄膜的步骤；通过湿法刻蚀工艺去除浮栅边缘的二氧化硅薄膜的步骤；对晶圆进行第二次快速热处理，使存储单元的浮栅边角的形貌由尖锐变得圆滑，形成圆滑形貌的浮栅边角的步骤。本发明能够改善NOR闪存的存储单元中浮栅的抗串扰性能，提高NOR闪存的可靠性。

技术领域

本发明涉及半导体制造领域，特别涉及一种NOR闪存及其制作方法。

背景技术

闪存(Flash Memory)是一种非易失性存储器，在没有电流供应的条件下也能够长久地保持数据，即断电数据也不会丢失。闪存主要分为NOR和NAND两种类型，通常称为NORFlash和NAND Flash。其中，NOR Flash，也称为编码型快闪记忆体。因为具备可直接执行代码、可靠性强、读取速度快等特性，从而成为闪存技术中主流的非易失性存储器。随着工艺的不断降低，存储器的特征尺寸不断缩小，串扰(Disturb)成为影响NOR Flash可靠性的一个关键问题。

图1为现有技术中编码型快闪记忆体的存储单元的结构示意图；图2是现有技术中编码型快闪记忆体的存储单元的浮栅边角的结构示意图。请参考图1-2，现有技术中的NORFlash的存储单元包括外延层1，SiO2隧穿氧化层2，浮栅3，浮栅边角6，控制栅5，浮栅3与控制栅5之间的层间介质层4。其中所述隧穿氧化层2形成于外延层1上，所述浮栅3形成于隧穿氧化层2上。所述浮栅边角6形成于浮栅3和隧穿氧化层2之间的界面上。所述浮栅3与控制栅5之间的层间介质层4形成浮栅3上，所述控制栅5形成于层间介质层4上。该NOR Flash在流片过程中，首先，在完成源极自对准的刻蚀和离子注入后，此时存储单元的浮栅3形成的浮栅边角6为尖锐形貌，然后执行后续的侧壁生长等工艺。则使上述结构的NOR Flash的存储单元中形成了尖锐形貌的浮栅边角6，该尖锐形貌的浮栅边角6会导致存储单元在正常工作时局部电场集中，极易在长时间工作后形成缺陷(weak point)，从而使产品的串扰性能恶化，降低产品的可靠性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，克服以上不足，提供了一种NOR闪存及其制作方法，以改善NOR闪存的存储单元中浮栅的抗串扰性能，提高NOR闪存的可靠性。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种NOR闪存，包括存储单元，所述存储单元包括层叠的栅极结构，所述栅极结构从下到上依次包括外延层、隧穿氧化层、浮栅、层间介质层、控制栅，所述浮栅和隧穿氧化层之间的界面形成浮栅边角，所述浮栅边角为圆滑形貌。

进一步的，本发明提供的NOR闪存，所述存储单元还包括形成在外延层的源极和漏极，所述源极和所述漏极分别位于所述栅极结构的各个侧面。

与现有技术相比，本发明提供的NOR闪存，浮栅边角为圆滑形貌，改善存储单元在正常工作时的电场分布，降低存储单元工作时的电场强度，在长时间工作时就不会形成缺陷，克服了现有技术中尖锐形貌的浮栅边角导致存储单元在正常工作时电场强度过于集中而导致NOR闪存抗串扰性能恶化的缺陷，从而有效改善产品的串扰性能，提升产品的可靠性。本发明提供的NOR闪存对产品的良率无任何影响，还具有结构简单、成本低廉的技术效果。

为了解决上述技术问题，本发明还提供一种NOR闪存的制作方法，包括在晶圆上形成存储单元的浮栅和控制栅的步骤，还包括以下步骤：

S100，完成晶圆源极自对准刻蚀和离子注入的步骤；

S200，对晶圆进行第一次快速热处理，使存储单元的浮栅边缘形成一层二氧化硅薄膜的步骤；

S300，通过湿法刻蚀工艺去除浮栅边缘的二氧化硅薄膜的步骤；