[发明专利]一种基于图像加速处理SoC芯片自动化仿真测试方法

权利要求书

1.一种基于图像加速处理SoC芯片自动化仿真测试方法，其特征在于具体步骤为：

第一步 搭建针对图像加速处理的SoC芯片自动化仿真测试系统

针对图像加速处理的SoC芯片自动化仿真测试系统，包括：多规格测试数据产生模块(1)、软件功能驱动模块(2)、可配精度算法黄金模型模块(3)、测试激励及对比结果数据库(4)和自动对比测试结果模块(5)；

多规格测试数据产生模块(1)的功能为：产生多种幅宽图像数据，并按照SoC芯片不同存储区的位宽生成相应存储格式的测试数据；

软件功能驱动模块(2)的功能为：按照待测图像加速处理模块的功能需求进行驱动配置，选择配置线性或非线性校正，高斯、梯度或中值滤波；

可配精度算法黄金模型模块(3)的功能为：构建基于matlab的可配精度算法黄金模型；

测试激励及对比结果数据库(4)的功能为：按待测图像加速处理模块的功能，提供不同时序测试激励及测试结果标准解；

自动对比测试结果模块(5)的功能为：根据测试节点进行对比，记录每种功能处理后结果和标准解对比的误差值，自动形成记录文档，辅助定位硬件设计问题点；

第二步 多规格测试数据产生模块(1)产生多种幅宽数据

多规格测试数据产生模块(1)根据配置，产生多种幅宽图像数据、数据来源通道和数据存储区产生所需要的测试数据，并按照SoC芯片不同存储区的位宽生成相应存储格式的测试数据，使其成为能被SoC芯片的图像处理模块使用的数据格式；

第三步 软件功能驱动模块(2)产生测试结果

软件功能驱动模块(2)由C语言实现，能够按照待测图像加速处理模块的功能需求进行驱动配置，选择配置线性或非线性校正，高斯、梯度或中值滤波；兼并了验证和使用两方面功能；并对顶层驱动进行封装，对外仅留有调用驱动的接口；实现过程中需要考虑待测图像加速处理模块的不同功能的处理时序、数据来源和数据存储区域信息；测试结果包含三个部分：原始图像，校正图像和滤波图像；测试结果将存储至测试激励及对比结果数据库(4)；

第四步 可配精度算法黄金模型模块(3)构建基于matlab的可配精度算法黄金模型

基于matlab的可配精度算法黄金模型根据SoC芯片实际运用场景决定模型的精度，在运算精度要求低，即数据结果有效位在7位内的运用场景，使用单精度模型，所述数据结果有效位指一个近似数，四舍五入到哪一位，从左边第一个非零数字起，向右数得到的位数就是有效位；在运算精度要求高，即数据结果有效位在16位的运用场景，使用双精度模型，并配有多种截位模型，使得标准解最大近似使用要求精度；标准解也存储进测试激励及对比结果数据库(4)，用于和仿真结果进行对比；

第五步 建立测试激励及对比结果数据库(4)

测试激励及对比结果数据库(4)包括测试激励数据库和对比结果数据库，其中测试激励是按不同功能提供不同时序下的测试激励；对比结果数据库包含了可配精度算法黄金模型处理得到的标准解和软硬件协同仿真得到的测试结果；

第六步 自动对比测试结果模块(5)自动对比测试结果

自动对比测试结果模块(5)能够根据测试节点对比多个仿真结果和标准解结果，自动对比测试模块根据功能，设置多个中间节点，根据中间节点进行对比，将结果按正确和错误分类，错误测试类会列出出错节点和与标准解对比的误差值，辅助定位硬件设计问题点。

2.根据权利要求1所述的基于图像加速处理SoC芯片自动化仿真测试方法，其特征在于第一步中，所述待测图像加速处理模块的功能包括线性校正功能、非线性校正功能、高斯滤波功能。