[发明专利]一种基于图像加速处理SoC芯片自动化仿真测试方法

说明书

本发明公开了一种基于图像加速处理SoC芯片自动化仿真测试方法，通过多规格测试数据产生模块(1)、软件功能驱动模块(2)、可配精度算法黄金模型模块(3)、测试激励及对比结果数据库模块(4)和自动对比结果模块(5)来完成。配置多规格测试数据产生模块(1)按需求产生测试数据，软件功能驱动模块(2)与可配精度算法黄金模型模块(3)产生测试激励及对比结果数据库模块(4)，最后利用自动对比结果模块(5)对比测试结果，定位出错功能点。本方法解决了SoC芯片图像加速处理模块测试功能点多，验证时间长问题，能自动产生测试数据，完成功能设计指标检测，达到快速定位硬件设计问题目的。

技术领域

本发明涉及一种协同仿真方法，特别是一种基于图像加速处理SoC芯片自动化仿真测试方法。

背景技术

随着高分辨率传感器的快速开发和部署，图像处理的应用面逐渐扩大，涉及航空航天、医学、天文学、地球科学、生物科学、农业、军事等各个领域，对图像的处理性能要求与日俱增。部分在技术领域领先的芯片公司根据这方面需求已开发具有图像加速处理功能的芯片。“精导芯2号”就是这样一款具有高性能图像处理能力的芯片，能够对多尺寸图像进行校正和滤波处理，满足了目前大多数领域对图像预处理的需求。该模块的质量直接关系到后续图像处理的质量，因此对图像处理模块的验证工作十分重要。

“精导芯2号”的图像加速模块，为兼容常用图像处理的应用，设计了多种数据来源通道，并配有多种功能模式，能够对图像进行线性和非线性校正处理，包含高斯、梯度和中值等多种常用滤波器，功能复杂，使用涵盖面广泛，同时也造成了该模块验证难度大、对比结果耗时等问题。

目前，传统的模块测试工作仅进行少量软件仿真验证，功能测试多在FPGA上进行，通过和实际的数据通路进行对接，直接测试图像处理模块的设计质量。但由于FPGA器件的种种限制，调试效率低，无法全面涵盖功能点，且定位问题困难。传统的结果对比方法仍然为人工观察，测试人员需要对每种处理结果进行结果对比，对问题点意义排查，耗费大量的人力物力。这种传统测试方法的弊端在设计版本升级时更为突出，测试人员需要在每次版本修改后，进行重复测试，耗时巨大。

发明内容

本发明目的在于提供一种基于图像加速处理SoC芯片自动化仿真测试方法，解决图像处理模块测试流程效率低、结果对比慢、出错点难以定位的问题。

一种基于图像加速处理SoC芯片自动化仿真测试方法的具体步骤为：

第一步搭建针对图像加速处理的SoC芯片自动化仿真测试系统

针对图像加速处理的SoC芯片自动化仿真测试系统，包括：多规格测试数据产生模块、软件功能驱动模块、可配精度算法黄金模型模块、测试激励及对比结果数据库和自动对比测试结果模块。

多规格测试数据产生模块的功能为：产生多种幅宽图像数据，并按照SoC芯片不同存储区的位宽生成相应存储格式的测试数据；

软件功能驱动模块的功能为：按照待测图像加速处理模块的功能需求进行驱动配置，选择配置线性或非线性校正，高斯、梯度或中值滤波；

可配精度算法黄金模型模块的功能为：构建基于matlab的可配精度算法黄金模型；

测试激励及对比结果数据库的功能为：按待测图像加速处理模块的功能，，提供不同时序测试激励及测试结果标准解。

自动对比测试结果模块的功能为：根据测试节点进行对比，记录每种功能处理后结果和标准解对比的误差值，自动形成记录文档，辅助定位硬件设计问题点。

第二步多规格测试数据产生模块产生多种幅宽数据

多规格测试数据产生模块根据配置，产生多种幅宽图像数据、数据来源通道和数据存储区产生所需要的测试数据，并按照SoC芯片不同存储区的位宽生成相应存储格式的测试数据，使其成为能被SoC芯片的图像处理模块使用的数据格式。