[发明专利]一种光电反射式传感器阵列

权利要求书

1.一种光电反射式传感器阵列，其特征在于，包括：

放置在不同位置的多个光电反射式传感器，用于向检测对象发送检测光，接收所述检测对象的反射光，并对所述反射光进行共振解调得到共振解调脉冲；

集中控制器，用于当目标条件触发时，确定接收到的各个所述共振解调脉冲的最大幅值，当所述最大幅值超出第一幅值阈值时，生成用于降低各个所述光电反射式传感器的所述检测光的发射强度的发射光强度控制信号，并将所述发射光强度控制信号发送给每一个所述光电反射式传感器；当所述最大幅值低于第二幅值阈值时，生成用于提高各个所述光电反射式传感器的所述检测光的发射强度的所述发射光强度控制信号，并将所述发射光强度控制信号发送给每一个所述光电反射式传感器；

其中，所述目标条件为所述集中控制器接收到两次由同一个所述光电反射式传感器发送的所述共振解调脉冲，所述第二幅值阈值小于等于所述第一幅值阈值；

所述集中控制器还包括对象识别器，用于根据预设的量化阈值，将接收到的各个所述共振解调脉冲进行量化检测，输出与各个所述共振解调脉冲一一对应的各个对象识别信号；

所述光电反射式传感器阵列还包括第一干扰抑制器，用于接收各个所述对象识别信号，当某一时刻各个所述对象识别信号有输出的个数大于1时，将该时刻的各个所述对象识别信号确定为干扰信号。

2.根据权利要求1所述的传感器阵列，其特征在于，各个所述光电反射式传感器包括：

脉冲光发射模块，用于向检测对象发送脉冲光，并接收所述集中控制器发送的所述发射光强度控制信号；

共振滤波模块，用于接收所述检测对象的反射光，并将所述反射光进行共振滤波得到共振滤波信号；

解调模块，用于接收所述共振滤波信号并进行解调，得到共振解调脉冲。

3.根据权利要求2所述的传感器阵列，其特征在于，所述共振滤波模块包括：

并联共振式光电接收器，用于基于与所述发射光强度控制信号相同的频率接收所述检测对象的反射光，并将所述反射光进行谐振放大得到光电输出信号；

共振滤波器，用于接收所述光电输出信号并进行共振滤波，得到共振滤波信号。

4.根据权利要求2所述的传感器阵列，其特征在于，所述解调模块包括：

检波器，用于确定接收的所述共振滤波信号的检波值，生成检波信号；

解调滤波器，用于接收所述检波信号并进行解调，生成解调脉冲信号；

灵敏度归一化调节器，用于接收所述解调脉冲信号并进行幅度调节，得到共振解调脉冲。

5.根据权利要求1至4任一项所述的传感器阵列，其特征在于，所述集中控制器包括：

加法器，用于接收各个所述共振解调脉冲，生成包含各个所述共振解调脉冲的多集合结果信号发送至峰值检波器；

所述峰值检波器，用于将接收到的所述多集合结果信号进行峰值检波以确定各个所述共振解调脉冲的最大幅值，生成携带所述最大幅值的集合峰值信号发送至发射光强度控制器；

所述发射光强度控制器，用于根据所述集合峰值信号的所述最大幅值的大小，确定相应强度的发射光强度控制信号，其中，当所述最大幅值超出第一幅值阈值时，生成用于降低各个所述光电反射式传感器的所述检测光的发射强度的发射光强度控制信号，并将所述发射光强度控制信号发送给每一个所述光电反射式传感器；当所述最大幅值低于第二幅值阈值时，生成用于提高各个所述光电反射式传感器的所述检测光的发射强度的所述发射光强度控制信号，并将所述发射光强度控制信号发送给每一个所述光电反射式传感器。

6.根据权利要求1所述的传感器阵列，其特征在于，所述光电反射式传感器阵列还包括第二干扰抑制器，用于接收各个所述对象识别信号，当确定所述检测对象为双网线局部并行结构，并且在某一时刻有且仅有两个所述对象识别信号有输出时，确定这两个对象识别信号为非干扰信号。

7.根据权利要求5所述的传感器阵列，其特征在于，所述集中控制器还包括集合鉴别器，用于接收所述多集合结果信号，并根据所述量化阈值将所述多集合结果信号进行量化检测，输出集合识别信号。

8.根据权利要求5所述的传感器阵列，其特征在于，所述集合识别器还包括基准电压器，用于向所述加法器、所述峰值检波器以及所述发射光强度控制器提供基准电压。