[发明专利]一种CMOS影像传感封装结构及其制作方法有效
申请号: | 201711414838.5 | 申请日: | 2017-12-22 |
公开(公告)号: | CN108155198B | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 吴振兴;林刘毓;刘浩哲;吴绍懋;程子桓;翁良志;刘健群;丘立安;黃乾燿;戴体贤 | 申请(专利权)人: | 成都先锋材料有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 郭新娟 |
地址: | 610000 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 cmos 影像 传感 封装 结构 及其 制作方法 | ||
本发明提供了一种CMOS影像传感封装结构及其制作方法,属于影像传感器技术领域。一种CMOS影像传感封装结构的制作方法,包括:在第一绝缘层、晶圆形成的结合层形成盲孔,盲孔穿过第一绝缘层且孔底位于晶圆,第一绝缘层背离晶圆的表面具有微凸镜;将第二绝缘层形成于盲孔的孔壁,然后在具有第二绝缘层的盲孔内填充导电材料,将结合层内与微凸镜和IC信号连接的导线引至第一绝缘层的表面并与导电材料电性连接;将透明基材固定于第一绝缘层具有微凸镜的表面,将挡片晶片形成于透明基材的表面,然后对晶圆进行磨薄以使得盲孔内的导电材料露出。该方法能制作出厚度较薄的CMOS影像传感封装结构。
技术领域
本发明涉及影像传感器技术领域,具体而言,涉及一种CMOS影像传感封装结构及其制作方法。
背景技术
CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor的缩写,中文意思为互补性氧化金属半导体)传感器,属于影像传感器中的一种,一般为数码相机中的核心部件。
目前,传统的CMOS传感器存在的问题是:封装结构的厚度较厚。
发明内容
本发明的目的在于提供一种CMOS影像传感封装结构的制作方法,其能制作出厚度较薄的CMOS影像传感封装结构。
本发明的另一目的在于提供一种CMOS影像传感封装结构,其具有厚度薄的特点。
本发明是这样实现的:
一种COMS影像传感封装结构的制作方法,包括:
在第一绝缘层、晶圆形成的结合层形成盲孔,盲孔穿过第一绝缘层且孔底位于晶圆,第一绝缘层背离晶圆的表面具有微凸镜;将第二绝缘层形成于盲孔的孔壁,然后在具有第二绝缘层的盲孔内填充导电材料,将结合层内与微凸镜和IC信号连接的导线引至第一绝缘层的表面并与导电材料电性连接;
将透明基材固定于第一绝缘层具有微凸镜的表面,将挡片晶片固定于透明基材的表面,然后对晶圆进行磨薄以使得盲孔内的导电材料露出。
进一步地,在本发明的一种实施例中:
磨薄前的晶圆厚度为700~1000μm,磨薄后的晶圆厚度为20~100μm。
进一步地,在本发明的一种实施例中:
磨薄后的晶圆厚度为40~70μm。
进一步地,在本发明的一种实施例中:
导电材料包括铜。
进一步地,在本发明的一种实施例中:
透明基材利用透光粘合胶固定于第一绝缘层的表面。
进一步地,在本发明的一种实施例中:
透明基材的材质包括蓝宝石、石英玻璃或氧化镁。
进一步地,在本发明的一种实施例中:
微凸镜与盲孔所在的区域分别为第一安装区和第二安装区,第一安装区与第二安装区互不重叠,透明基材设置在第一安装区。
进一步地,在本发明的一种实施例中:
透明基材覆盖于结合层的整个表面。
进一步地,在本发明的一种实施例中:
对晶圆进行磨薄后,还包括将第三绝缘层形成于磨薄后的晶圆表面并使得导电材料露出,然后将金属凸块形成于第三绝缘层并与导电材料电连接。
一种COMS影像传感封装结构,其由上述的COMS影像传感封装结构的制作方法制成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的