[发明专利]调零式冲击侧膨胀仪

权利要求书

1.一种调零式冲击侧膨胀仪，其特征在于，由底座(1)、基准支座(2)、数显千分表(3)、圆形平面测头(4)以及零点校准块(5)组成；该底座(1)上设有零点校准块(5)和基准支座(2)，数显千分表(3)设置在基准支座(2)上，该数显千分表(3)上设有圆形平面测头(4)；底座(1)和基准支座(2)通过第一紧固螺母(6)固定，数显千分表(3)和基准支座(2)通过第二紧固螺母(8)固定；

所述底座(1)为长方形的块体；该底座(1)的顶侧两端分别设有零点校准块(5)和基准支座(2)，基准支座(2)通过第一紧固螺母(6)固定于底座(1)上；

所述零点校准块(5)为一块立方体，其高度大于圆形平面测头(4)的高度，其位于底座一端供进行零点校准；

所述基准支座(2)为长方体，其宽度小于底座宽度，长度为底座(1)长度的二分之一至四分之三，高度12mm至15mm；该基准支座(2)的底侧设有螺孔，供由底座设有的螺孔穿出的第一紧固螺母(6)穿入而与底座(1)另一端螺固，该基准支座(2)的顶侧为检测面，该检测面中间位置设有V字形槽；

所述数显千分表(3)采用量程为0至12.7mm，精度为0.001mm的市售产品，第二紧固螺母(8)穿过数显千分表自带挂耳后盖孔后螺入基准支座(2)顶面设有的螺纹孔中与基准支座(2)螺固；

该圆形平面测头(4)为台阶状圆柱体，其小直径端设有外螺纹，供与数显千分表测量杆螺接，大直径端的平面端为测量头，该测量头朝向零点校准块(5)。

2.一种如权利要求1所述的调零式冲击侧膨胀仪的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：

第一步：将零点校准块紧靠基准支座检测面后，使圆形平面测头内缩后与基准支座检测面平齐，此时按下数显千分表零点按钮进行零点校准；

第二步：将冲断的两半冲击试验件下部对齐，沿V型缺口相背方向拼接为一整体； 将两半拼接为整体的冲击试验件下部未变形部分紧靠基准支座检测面，两半拼接为整体的冲击试验件缺口断面一侧紧贴数显千分表圆形平面测头，即为该侧的最大侧膨胀量，记录数显千分表读数LP1；

第三步：将两半拼接为整体的冲击试验件缺口断面另一侧紧贴数显千分表圆形平面测头，即为另一侧的最大侧膨胀量，记录数显千分表读书LP2；

第四步：将第二步和第三步读取的读数相加即为冲击试验侧膨胀量LP，LP＝LP1+LP2。

3.根据权利要求2所述的调零式冲击侧膨胀仪的使用方法，其特征在于，所述第二步将数显千分表圆形平面测头位置凸出于基准支座的检测面，使用前通过零点校准块进行零点校准，避免长时间使用基准支座检测面导致其磨损过大而引起的零点失准问题。