[发明专利]调零式冲击侧膨胀仪

说明书

本发明提供一种调零式冲击侧膨胀仪，底座上设有零点校准块和基准支座，数显千分表设置在基准支座上，该数显千分表上设有圆形平面测头；底座和基准支座通过第一紧固螺母固定，数显千分表和基准支座通过第二紧固螺母固定；使用方法包括，第一步零点校准；第二步将冲击试验件一侧紧贴数显千分表圆形平面测头，记录数显千分表读数LP1；第三步将冲击试验件另一侧紧贴数显千分表圆形平面测头，记录数显千分表读书LP2；第四步将第二步和第三步读取数相加即为冲击试验侧膨胀量；克服游标卡尺测量精度偏低问题，增加零点校准而避免长时间使用基准支座检测面导致磨损而引起零点失准问题。

技术领域

本发明涉及金属材料冲击试验件缺口断面的侧膨胀量测定用的调零式冲击侧膨胀仪。

背景技术

夏比冲击试验是评价金属材料性能指标的一项重要指标，用于评价金属材料抗缺口敏感性，主要测量指标有冲击吸收功和侧膨胀量。而侧膨胀量的测定方法形式多样，且不同标准对测量方法和测量精度有不同的要求。常用的测量方法为游标卡尺和普通冲击侧膨胀仪。

采用游标卡尺进行测量时，需要进行断前断后两次测量，然后将两次测量数据相减后得到侧膨胀值。该方法测量精度低(0.02mm)，不满足部分标准规范要求。按照理论要求断前断后两次测量应该为同一位置，但实际操作不可能实现。同时，需要进行两次测量进行数值减法计算，测量流程相对繁琐。

采用标准推荐的普通冲击侧膨胀仪测量时，由于普通冲击侧膨胀仪设计结构存在一定缺陷，比如未设置调零环节，会使试验结果不可靠。同时，未考虑磨损问题，长时间使用后测量结果会失准。因此有待进一步改进。

发明内容

本发明的主要目的在于克服现有技术存在的上述缺点，设计一种可调零的冲击侧膨胀仪，结构设计合理，测量精度高，能满足所有标准规范测量精度要求；通过将数显千分表表头位置凸出于基准支架检测面，引入零点校准流程，避免磨损导致的测量结果失稳。

本发明的目的是由以下技术方案实现的。

本发明调零式冲击侧膨胀仪，其特征在于，由底座、基准支座、数显千分表、圆形平面测头以及零点校准块组成；该底座上设有零点校准块和基准支座，数显千分表设置在基准支座上，该数显千分表上设有圆形平面测头；底座和基准支座通过第一紧固螺母固定，数显千分表和基准支座通过第二紧固螺母固定。

前述的调零式冲击侧膨胀仪，其中，所述底座为长方形的块体；该底座的顶侧两端分别设有零点校准块和基准支座，基准支座通过第一紧固螺母固定于底座上；所述零点校准块为一块立方体，其高度大于圆形平面测头的高度，其位于底座一端供进行零点校准；所述基准支座为长方体，其宽度小于底座宽度，长度为底座长度的二分之一至四分之三，高度12mm至15mm；该基准支座的底侧设有螺孔，供由底座设有的螺孔穿出的第一紧固螺母穿入而与底座另一端螺固，该基准支座的顶侧为检测面，该检测面中间位置设有V字形槽；所述数显千分表采用量程为0至12.7mm，精度为0.001mm的市售产品，第二紧固螺母穿过数显千分表自带挂耳后盖孔后螺入基准支座顶面设有的螺纹孔中与基准支座螺固；该圆形平面测头为台阶状圆柱体，其小直径端设有外螺纹，供与数显千分表测量杆螺接，大直径端的平面端为测量头，该测量头朝向零点校准块。

本发明调零式冲击侧膨胀仪的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：

第一步：将零点校准块紧靠基准支座检测面后，使圆形平面测头内缩后与基准支座检测面平齐，此时按下数显千分表零点按钮进行零点校准；

第二步：将冲断的两半冲击试验件下部对齐，沿V型缺口相背方向拼接为一整体；将两半拼接为整体的冲击试验件下部未变形部分紧靠基准支座检测面，两半拼接为整体的冲击试验件缺口断面一侧紧贴数显千分表圆形平面测头，即为该侧的最大侧膨胀量，记录数显千分表读数LP1；

第三步：将两半拼接为整体的冲击试验件缺口断面另一侧紧贴数显千分表圆形平面测头，即为另一侧的最大侧膨胀量，记录数显千分表读书LP2；