[发明专利]一种基板半板检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板检测领域，尤其涉及一种基板半板检测装置。

背景技术

通常屏幕的制作有很多段制程，其中玻璃基板的制作便是其中的一个重要步骤。而在屏幕玻璃基板的生产过程中，总是会在玻璃基板表面或玻璃基板内部产生各种类型的缺陷，缺陷可包括表面不连续性、线状缺陷、条纹、结石、气泡以及玻璃基板体的光学不均匀性等。而为了不让有缺陷的玻璃基板流入到后面的制程上，通常需要对玻璃基板是否存在上述缺陷进行检测。随着显示面板尺寸的不断增加，整张面板的搬运、生产及检测的难度逐渐增大，通常会把整张大的基板切成两张半板甚至更小，以便于搬运和生产，而现有技术中显示面板的检测设备仅能适用于整张面板的检测，不能同时对两张半板进行检测，用现有的设备每次只能检测半张基板，严重影响检测效率。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：为解决现有技术中玻璃基板半板检测效率低下的问题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基板半板检测装置，包括：底座、承载台、检测组件、探针组件及暂存工位；

所述底座上设有轨道，所述承载台滑动设置于轨道上，且包含第一载台A及第二载台B，所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板；所述轨道具有相对的第一端和第二端；

所述检测组件设置于轨道上方，包括龙门头和检测头，所述龙门头设置于底座上，所述检测头滑动设置于龙门头上，用于对半板进行光学检测；所述探针组件设置于轨道上方，用于对半板进行电性检测；

所述暂存工位设置于所述轨的第二端；其中，

所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动，完成两张半板的检测；且所述第一载台A上的半板进行检测时，所述第二载台B位于所述暂存工位。

进一步改进为，所述承载台上均匀设置有多个用于承接玻璃基板的可升降支脚。

进一步改进为，所述承载台上均匀分布有多个吸附孔，所述吸附孔与抽真空设备相连接。

进一步改进为，所述承载台下设置有驱动承载台旋转的驱动器。

进一步改进为，所述承载台四周设置有可伸缩的夹脚，用于夹住玻璃基板。

进一步改进为，所述承载台底部设有垂直于轨道方向的移动机构，且所述轨道两侧各设有一个摄像头，所述摄像头用于获取玻璃基板的位置信息。

进一步改进为，所述底座下设置有除震台。

进一步改进为，所述暂存工位还包括卡匣，所述卡匣用于存放多组探针组。

进一步改进为，还包括探针更换组件，所述探针更换组件通过支架设置于底座上，所述探针更换组件具有用于夹取探针组的机械手，所述机械手通过第二轨道在卡匣与探针组件之间移动。

进一步改进为，所述卡匣两侧设有举升组件，用以将待取探针组举升或下移至取料高度。

本发明的有益效果是：

本发明提供的玻璃基板半板检测装置实现了玻璃基板光学性能及电学性能的全自动检测，大大提高了检测效率，节省了人力。同时，实现了两个半板的同时检测，及不同产品可使用一个装置进行检测，提高了检测效率。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1为本发明的基板半板检测装置结构示意图；

图2为本发明的承载台结构示意图；

图3为本发明的检测组件及探针组件结构示意图；

图4为图1中C部放大图；

图5为本发明的驱动器及除震台结构示意图；

图中的附图标记为：

1-底座，2-承载台，3-检测组件，4-探针组件，5-支架，6-除震台，7-暂存工位，8-探针更换组件，11-轨道，12-摄像头，21-支脚，22-驱动器，23-夹脚，24-移动机构，25-吸附孔，31-龙门头，311-Y向轨道，32-检测头，41-固定座，42-探针组，51-X向移动轨道，71-举升组件，72-卡匣，81-机械手，82-第二轨道。

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。