[发明专利]测试对象安全性检测方法和测试对象安全性检测设备

权利要求书

1.一种测试对象安全性检测方法，包括：

将激发光引导至待测样品并收集来自所述待测样品的第一光信号并由所述第一光信号生成第一光谱；

在预定时间间隔后再次将激发光引导至所述待测样品并收集来自所述待测样品的第二光信号并由所述第二光信号生成第二光谱；以及

将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括：比较所述第一光谱的总体积分强度和所述第二光谱的总体积分强度的差异，在所述第一光谱的总体积分强度和所述第二光谱的总体积分强度的差异超出第一阈值的情况下，则确定待测样品已损坏；反之，则确定待测样品未损坏。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括：

分别提取所述第一光谱的荧光包络和所述第二光谱的荧光包络；以及

将所述第一光谱的荧光包络和所述第二光谱的荧光包络进行比较来确定所述待测样品是否损坏。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述将所述第一光谱的荧光包络和所述第二光谱的荧光包络进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括：

检测所述第一光谱的荧光包络中的一个或更多个峰的位置和强度以获得一个或更多个第一考察荧光强度；

检测所述第二光谱的荧光包络中与所述一个或更多个峰的位置对应的位置处的强度以获得一个或更多个第二考察荧光强度；

在所述第一考察荧光强度和所述第二考察荧光强度的差异超出第二阈值的情况下，则确定待测样品已损坏；反之，则确定待测样品未损坏。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括：

分别提取所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰；以及

将所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的位置和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的位置进行比较，在所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的位置与所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的位置的差异大于第三阈值的情况下，则确定待测样品已损坏。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括：

分别提取所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰；以及

将所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的强度和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的强度进行比较，在所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的强度与所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的强度的差异大于第四阈值的情况下，则确定待测样品已损坏。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括：

计算第一光谱和第二光谱的相似度，在所述第一光谱和所述第二光谱的相似度小于第五阈值的情况下，则确定待测样品已损坏；反之，则确定待测样品未损坏。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括：比较所述第一光谱的总体积分强度和所述第二光谱的总体积分强度的差异，在所述第一光谱的总体积分强度和所述第二光谱的总体积分强度的差异超出第一阈值的情况下，则确定待测样品已损坏；反之，则执行如下步骤：

分别提取所述第一光谱的荧光包络和所述第二光谱的荧光包络；检测所述第一光谱的荧光包络中的一个或更多个峰的位置和强度以获得一个或更多个第一考察荧光强度；

检测所述第二光谱的荧光包络中与所述一个或更多个峰的位置对应的位置处的强度以获得一个或更多个第二考察荧光强度；

在所述第一考察荧光强度和所述第二考察荧光强度的差异超出第二阈值的情况下，则确定待测样品已损坏；反之，则执行以下步骤：

分别提取所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰；

将所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的位置和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的位置进行比较，在所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的位置与所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的位置的差异大于第三阈值的情况下，则确定待测样品已损坏。