[发明专利]一种OLED亮度的检测方法有效
申请号: | 201711446529.6 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN108198528B | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 罗志猛;赵云;张为苍 | 申请(专利权)人: | 信利半导体有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/3208;G01M11/02 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 邓义华;廖苑滨 |
地址: | 516600 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 oled 亮度 检测 方法 | ||
1.一种OLED亮度的检测方法,包括如下步骤:
步骤1:提供大尺寸的OLED 母板,所述OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板;
步骤2:从上述OLED 母板的多个OLED显示面板中选取一个OLED显示面板,在该OLED显示面板的区域设置由几个到几十个像素紧密排列组成的检测块,所述检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线以输入电压,使得所述检测块采用电压驱动点亮所述检测块内的像素,调节电压使检测块内的像素亮度在1万nits至20万nits范围内变动;
步骤3:采集大批量生产的检测块在某电压下的亮度数据,并根据检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的亮度情况及OLED模组亮度标准,确定检测块在上述电压下的亮度检测标准;
步骤4:确定待测的检测块在对应的电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。
2.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法,其特征在于,OLED模组的制备方法是:将OLED 母板切割成单个OLED显示面板后,绑定驱动IC及FPC成为OLED模组。
3.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法,其特征在于,步骤2中从上述OLED 母板的多个OLED显示面板中选取一个位于所述OLED 母板边缘的OLED显示面板。
4.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法,其特征在于,步骤2中所述的亮度范围的下限为1万nits。
5.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法,其特征在于,所述检测块的形状为正方形或圆形。
6.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法,其特征在于,所述检测块内像素的个数为N2个,其中N为大于1的正整数。
7.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法,其特征在于,同一OLED显示面板中检测块的数量为一个。
8.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法,其特征在于,同一OLED显示面板中检测块的数量为两个,两个检测块由同一电路输入电压,且两个检测块之间采用并联设计,两个检测块分别由不同的SEG及COM控制。
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