[发明专利]一种OLED亮度的检测方法

说明书

本发明公开了一种OLED亮度的检测方法，包括：步骤1：提供大尺寸的OLED母板，OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板；步骤2：选取一个OLED显示面板，在该OLED显示面板的区域设置由几个到几十个像素紧密排列组成的检测块，检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线，调节电压使检测块内的像素亮度变动；采集大批量生产的检测块在某电压下的亮度数据，并根据检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的亮度情况及OLED模组亮度标准，确定检测块在上述电压下的亮度检测标准；步骤4：确定待测的检测块在对应的电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。本发明无需将OLED母板切割成单个OLED显示面板就可以方便快捷地检测OLED母板的亮度是否达到要求。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及了一种OLED亮度的检测方法。

背景技术

有机电致发光器件(OLED)由于具有发光效率高、色彩丰富、机械可柔、超薄便携等优异性能在下一代高分辨率新型显示、传感器用特殊光源、固态照明 等领域中具有广阔的应用前景。

亮度是表征OLED性能的重要参数之一。对于OLED模组，产品达到规格书定义的亮度是一项基本要求。管控好OLED模组亮度的前提是保证切割前的大片面板亮度达标。常用的检测及控制大片面板亮度的方法是：通过小批量试产初步确定某电压下的亮度标准，再根据量产时模组的表现再对该标准进行微调。量产中，对于大片亮度略低（亮度大于最低亮度标准*75%）的情况，则需要采用试绑定或高电流密度输入检测。试绑定是一种最稳妥的办法，但工作效率极低。而一般电压检测（最大片常用的检测方法）或电流检测达到的亮度只有1万nits以下，对于模拟模组亮度（一般在几万nits到十万nits之间）的情况实用性不强，常常导致误判、导致模组大批量亮度不达标。

发明内容

为了弥补已有技术的缺陷，本发明提供一种OLED亮度的检测方法。

本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

一种OLED亮度的检测方法，包括如下步骤：

步骤1：提供大尺寸的OLED 母板，所述OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板；

步骤2：从上述OLED 母板的多个OLED显示面板中选取一个OLED显示面板，在该OLED显示面板的区域设置由几个到几十个像素紧密排列组成的检测块，所述检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线以输入电压，使得所述检测块采用电压驱动点亮所述检测块内的像素，调节电压使检测块内的像素亮度在1万nits至20万nits范围内变动；

步骤3：采集大批量生产的检测块在某电压下的亮度数据，并根据检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的亮度情况及OLED模组亮度标准，确定检测块在上述电压下的亮度检测标准；

步骤4：确定待测的检测块在对应的电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。

进一步地，OLED模组的制备方法是：将上述OLED 母板切割成单个OLED显示面板后，绑定驱动IC及FPC成为OLED模组。

进一步地，步骤2中从上述OLED 母板中选取一个位于所述OLED 母板边缘的OLED显示面板。

进一步地，步骤2中所述的亮度范围的下限为1万nits。

进一步地，所述检测块的形状为正方形或圆形。

进一步地，所述检测块内像素的个数为N²个，其中N为大于1的正整数。

进一步地，同一OLED显示面板中检测块的数量为一个。

进一步地，同一OLED显示面板中检测块的数量为两个，两个检测块由同一电路输入电压，且两个检测块之间采用并联设计，两个检测块分别由不同的SEG及COM控制。