[发明专利]一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备有效

专利信息
申请号: 201711447277.9 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108172153B 公开(公告)日: 2021-08-13
发明(设计)人: 陈文源;倪传周;沐林;严吉新;殷建东 申请(专利权)人: 苏州华兴源创科技股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张雪梅
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 液晶 模组 老化 测试 装置 包括 设备
【权利要求书】:

1.一种液晶模组老化测试装置,其特征在于,包括:

随机存储器、Flash闪存、微处理器、FPGA、输出接口和信号监控单元,其中

Flash闪存存储从上位机接收的液晶模组的显示画面数据;

所述微处理器从所述随机存储器调用来自上位机的测试参数和显示画面参数传输到所述FPGA;

所述FPGA根据所述测试参数生成测试信号并根据所述显示画面参数从所述Flash闪存读取所述显示画面数据,并将所述测试信号和显示画面数据传输到所述输出接口;

所述输出接口将所述测试信号和显示画面数据传输到所述液晶模组;

所述信号监控单元用于监控所述输出接口输出的测试信号,如果发现异常,则关闭对所述装置的供电并发送报警信号给所述上位机。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述输出接口包括第一输出接口和第二输出接口,其中所述第一输出接口输出RGB驱动信号和时钟控制信号,所述第二输出接口输出RGB驱动信号。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:

连接所述装置和上位机的LAN网口和USB接口,

其中,所述显示画面数据从所述上位机通过所述LAN网口下载到所述Flash闪存中;

所述测试参数从所述上位机通过所述USB接口下载到所述装置中。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置为多个,所述多个装置通过无线路由器和LAN网口与所述上位机进行组网。

5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括信号分配缓冲器基板,用于为所述装置提供所需的工作电压。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的装置,其特征在于,所述测试参数包括:电压设定值、电压最大最下保护值、电流最大最小保护值、电源时序先后时间、时钟频率、水平时钟、垂直时钟、前后沿时间、画面编辑、画面主代码、RGB 信号输出变量和画面等待时间。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的装置,其特征在于,所述随机存储器为两个DDR3存储器,所述Flash闪存为两个。

8.一种液晶模组老化测试设备,其特征在于,包括根据权利要求1-7中任一项所述的测试装置;还包括用于将待测试液晶模组安装在所述设备上的安装部,所述安装部包括:

托盘,用于放置所述待测试液晶模组;

电接触件,用于将所述待测试模组的测试部与ROM基板的相应端口电连接;

定位装置,用于将所述测试部定位在所述ROM基板的相应端口的位置。

9.根据权利要求8所述的设备,其特征在于,还包括:

柔性印刷电路板;

ROM基板;其中

所述输出接口输出的测试信号和显示画面数据通过所述柔性印刷电路板传输到所述ROM基板;

所述ROM基板连接待测试的所述液晶模组,并且所述ROM基板能够根据待测试液晶模组端口的需求而配置。

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