[发明专利]一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备

说明书

本发明提供了一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备，该装置包括：随机存储器、Flash闪存、微处理器、FPGA、输出接口和信号监控单元，其中Flash闪存存储从上位机接收的液晶模组的显示画面数据；所述微处理器从述随机存储器调用来自上位机的测试参数和显示画面参数传输到所述FPGA；所述FPGA根据所述测试参数生成测试信号并根据所述显示画面参数从所述Flash闪存读取所述显示画面数据，并将所述测试信号和显示画面数据传输到所述输出接口；所述输出接口将所述测试信号和显示画面数据传输到所述液晶模组；所述信号监控单元用于监控所述输出接口输出的测试信号，如果发现异常，则关闭对所述装置的供电并发送报警信号给所述上位机。

技术领域

本发明涉及液晶显示领域，特别地，涉及一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备。

背景技术

目前的TFT-LCD(thin film transistor-liquid crystal display，薄膜晶体管液晶显示器)模组老化盒控制系统采用USB通讯传输设定的驱动信号去点亮TFT-LCD液晶模组，通过上位机编辑参数，并把相关参数通过USB下载更新到TFT-LCD液晶模组老化盒，其中包括单片机的控制程序和模组需要的各参数：模组时钟频率、水平时钟、垂直时钟、时序要求、电压电流设定值、切换画面时间、自动On/Off模式、老化自动循环模式(其中包括三阶段单画面固定时间、多画面固定时间循环、固定画面On/Off)等、以及FPGA可编程逻辑器件的程序，让FPGA按程序要求输出模组需要的RGB信号画面，来点亮驱动模组。电源采用+12V和±24V输入，通过升压等回路输出五路可软件设定的电压：VSHD(3～10V)、VSHA(3～10V)、VGH(1～15V)、VGL(-1～-15V)、VLED(1～42V)。通过上位机软件设定模组需要的电压参数，并下载在到液晶模组老化盒控制系统中，在开启设备时，对应的端口电压按设定幅值进行输出供给模组。TFT-LCD液晶模组老化盒控制系统可通过USB端口进行实时信号传输控制，也可以通过设备外接的按键旋钮等进行设备的开启和关闭、画面切换、模式切换等。通过分配基板、XF2M欧姆龙接插件、FFC和ROM基板将信号对接到不同需求的模组接口上(包括数字信号接口、模拟类型接口、LVDS信号接口等)。

但是上位机通过USB端口和TFT-LCD液晶检测设备连接的台数有限，一般多于3台以上就可能产生端口冲突无法识别，而且上位机的USB端口+5V供电驱动能力也是有限的，在多台设备一起连接驱动时，电压会衰减导致无法驱动连接。因为这一点目前的TFT-LCD液晶老化信号盒驱动控制系统就无法实现多台连接到同一台PC上位机同时控制，在更新程序就只能单台更新，需要大量时间和人力物力(设备PC上位机)，给客户在使用设备带来诸多不便，并增加了客户的劳动量和成本。

目前的TFT-LCD液晶模组老化盒控制系统没有存储Flash，无法存储BMP画面这种大数据，只能输出FPGA生存的内置画面，客户在需要在测试时显示复杂画面或图片照片时，目前的液晶模组老化盒控制系统就无法满足客户的需求，给客户的使用造成了不便。设计工程人员为满足TFT-LCD客户的部分复杂画面，需要花费很多精力想办法通过FPGA编程内部实现，也会占用大量的FPGA内部资源，有时候甚至是不可能的。目前的TFT-LCD液晶设备就无法实现客户需求。

目前的TFT-LCD液晶模组老化盒控制系统因FPGA端口较少，只能驱动Single接口模组，无法驱动Dual接口模组。在TFT-LCD市场模组分辨率越来越趋向高分辨率时，之前的TFT-LCD液晶模组老化盒控制系统就显的捉襟见肘，无法驱动对应的局面。

目前的TFT-LCD液晶模组老化盒控制系统无法对输出端口的电压电流进行监控，在压接错位、器件不良损坏等导致大电流或设备本身的大电压输出时，可能导致TFT-LCD液晶模组损坏，或设备长时间输出大电流导致设备发热，存有产生明火等安全隐患。

发明内容

为了解决上述技术问题中的至少一个，本发明提供了一种液晶模组老化测试装置及包括该装置的设备。