[发明专利]雷达性能的测试系统及利用其进行雷达性能测试的方法

权利要求书

1.一种雷达性能的测试系统，包括：

固定装置，用于固定被测试的雷达；

环形导轨，设置在所述固定装置的外侧，且与所述固定装置同心，半径可变；

控制装置，用于控制所述环形导轨按设置的运动参数旋转；

一个或多个目标物体，设置在所述环形导轨上。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述一个或多个目标物体固定设置在所述环形导轨上。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述一个或多个目标物体按照设定的速度在所述环形导轨上匀速或加速运动。

4.根据权利要求1至3任一项所述的系统，其中，还包括：

电波暗室，用作测试场地，所述固定装置、所述环形导轨、所述控制装置和一个或多个所述目标物体设置在所述电波暗室内。

5.根据权利要求1至3任一项所述的系统，所述设置的运动参数包括以下之一：旋转角速度、旋转角度、以及旋转加速度。

6.一种利用权利要求1至5任一项所述的测试系统进行雷达性能测试的方法，包括：

步骤1，设置所述测试系统的环形导轨的半径为预设值；

步骤2，将设置在所述环形导轨上的第一目标物体移动至预设位置，其中，所述预设位置与所述环形导轨的中心的连线与固定在所述测试系统的固定装置上的被测试的雷达正对的方向的第一夹角为90度，将所述环形导轨当前的位置记为初始位置；

步骤3，所述控制装置控制所述环形导轨从所述初始位置按照预设方向旋转，使所述第一夹角减小，直至所述被测试的雷达探测到所述第一目标物体；

步骤4，根据所述环形导轨从初始位置旋转到当前位置的旋转角度∠A、所述被测试的雷达探测到所述第一目标物体的角度∠A’、第一目标物体的位置(xb,yb)和所述被测试的雷达探测到第一目标物体的位置(xb’,yb’)，获取所述被测试的雷达在当前半径下的最大角度探测范围为旋转角度∠A、当前半径下所述被测试的雷达的角度探测精度ΔA＝∠A-∠A’、以及所述被测试的雷达当前半径下的距离探测精度Δd＝sqrt[(xb-xb’)2+(yb-yb’)2]；

步骤5，所述控制装置控制所述环形导轨继续按照所述预设方向旋转，所述控制装置控制所述环形导轨继续按照所述预设方向旋转，直至所述被测试的雷达探测不到所述第一目标物体，停止测试，其中，每旋转预定角度，如果所述被测试的雷达能探测到所述第一目标物体，则根据所述环形导轨从初始位置旋转到当前位置的旋转角度和所述被测试的雷达探测到所述第一目标物体的角度、第一目标物体的位置和所述被测试的雷达探测到第一目标物体的位置，获取在当前半径下所述被测试的雷达的角度探测精度、以及所述被测试的雷达当前半径下的距离探测精度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在步骤5之后，还包括：

增大所述测试系统的环形导轨的半径，重复步骤2至步骤5，获取所述被测试的雷达在当前半径下的最大角度探测范围、角度探测精度和距离探测精度。

8.根据权利要求7所示的方法，其中，还包括：

继续增大所述测试系统的环形导轨的半径，重复步骤2至步骤5，直至所述环形导轨旋转到任意角度，所述被测试的雷达均不能探测到所述第一目标物体为止。