[发明专利]太赫兹检测方法在审

专利信息
申请号: 201711458641.1 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108226089A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 彭世昌;李辰;丁庆 申请(专利权)人: 雄安华讯方舟科技有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 刘雯
地址: 071700 河北省保定市*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 吸收谱 本征吸收 待测样品 峰值位置 标定 平滑处理 数据比较 物质识别 峰位置 检测 预存 判定 数据库 测试 重复 损害
【权利要求书】:

1.一种太赫兹检测方法,用于物质识别,其特征在于,包括:

以太赫兹波重复至少两次测试待测样品,获得相应吸收谱;

对吸收谱进行平滑处理,标定吸收谱的峰值位置;

根据标定吸收谱的峰值位置,确定待测样品的太赫兹本征吸收峰位置;

将确定的太赫兹本征吸收峰位置与数据库内预存的数据比较,以判定待测样品真假。

2.根据权利要求1所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述确定待测样品的太赫兹吸收峰位置,包括:

将重复测试的多条谱线中所标定吸收谱的峰值位置进行比对;

判断重复测试的多条谱线中所标定的吸收峰位置是否重合。

3.根据权利要求2所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述判断重复测试的多条谱线中所标定的吸收峰位置是否重合的步骤包括:

如果标定的吸收峰位置重合,则将标定的吸收峰位置作为太赫兹本征吸收峰位置。

4.根据权利要求1所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述判定待测样品真假的步骤包括:通过比较太赫兹本征吸收峰位置与数据库内数据是否重合,判定待测样品的真假。

5.根据权利要求1所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述相应吸收谱由太赫兹光谱仪装置测量得到。

6.根据权利要求5所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述太赫兹光谱仪装置包括:

载物台,用于承载待测样品;

激光器,用于产生脉冲光;

分束片,用于将脉冲光分为泵浦光和探测光;

太赫兹辐射端,设置在所述泵浦光所在光路,所述泵浦光辐射到太赫兹辐射端产生太赫兹波;

抛物面镜,用于接收所述太赫兹波并准直聚焦至所述载物台的样品承载位置,并将透过样品的太赫兹波准直聚焦;

太赫兹接收端,设置在经准直聚焦的透过样品的太赫兹波的传播路径上以及所述探测光所在光路上,接收所述太赫兹波以及所述探测光,产生检测信号;处理模块,接收所述检测信号,并经相应处理最终显示出太赫兹吸收谱。

7.根据权利要求6所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述太赫兹光谱仪装置还包括样品仓,用于为样品检测提供预定的气体环境。

8.根据权利要求7所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述太赫兹光谱仪装置测得相应吸收谱的步骤包括:

将样品仓充满氮气,在载物台上为空载时,使用太赫兹光谱仪装置测得的信号作为参考信号,进而测得参考信号吸收谱;

将待测样品放入样品仓,经过相应的处理得到待测样品吸收谱。

9.根据权利要求1所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述待测样品制成压片。

10.根据权利要求9所述的太赫兹检测方法,其特征在于,所述待测样品为果糖与高密度聚乙烯按质量比1:4均匀混合压片制成。

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