[发明专利]太赫兹检测方法

说明书

本发明涉及一种太赫兹检测方法，用于物质识别，包括：以太赫兹波重复至少两次测试待测样品，获得相应吸收谱。将吸收谱平滑处理，标定吸收谱的峰值位置。根据标定吸收谱的峰值位置，确定待测样品的太赫兹本征吸收峰位置。将确定的太赫兹本征吸收峰与数据库内预存的数据比较，则判定待测样品真假。上述方法操作简单，准确获得太赫兹本征吸收峰，且对待测样品无任何损害。

技术领域

本发明涉及太赫兹物质识别技术领域，特别是涉及太赫兹检测方法。

背景技术

太赫兹波是指频率在0.1～10THz，波长范围0.03～30mm之间的电磁辐射，其波段位于微波与红外之间，是宏观电子学向微观光子学的过渡区域，由于缺乏有效的产生和探测手段一直未能得到较好的利用。太赫兹在电磁波谱的位置比较特殊导致其有许多独特性质：THz波段光子的能量约为1～10mev，不会对生物组织产生有害的电离辐射，相较于可见光与红外光谱，其穿透能力更强，且不易受瑞利散射的影响可用于生物成像、医疗诊断等；太赫兹辐射具有相干性，能够直接得到所测物质的振幅和相位信息从而计算所测物质的折射率与吸收系数等；许多生物大分子的振动和转动频率都处在太赫兹频段，所以利用太赫兹辐射可以对生物分子进行指纹识别，从而检测物质所含成分的差异。

发明内容

基于此，提供一种太赫兹检测方法。

一种太赫兹检测方法，用于物质识别，包括：

以太赫兹波重复至少两次测试待测样品，获得相应吸收谱；

对吸收谱进行平滑处理，标定吸收谱的峰值位置；

根据标定吸收谱的峰值位置，确定待测样品的太赫兹本征吸收峰位置；

将确定的太赫兹本征吸收峰位置与数据库内预存的数据比较，以判定待测样品真假。

在其中一个实施例中，所述确定待测样品的太赫兹吸收峰位置，包括：

将重复测试的多条谱线中所标定吸收谱的峰值位置进行比对；

判断重复测试的多条谱线中所标定的吸收峰位置是否重合。

在其中一个实施例中，所述判断重复测试的多条谱线中所标定的吸收峰位置是否重合的步骤包括：

如果标定的吸收峰位置重合，则将标定的吸收峰位置作为太赫兹本征吸收峰位置。

在其中一个实施例中，所述判定待测样品真假的步骤包括：通过比较太赫兹本征吸收峰位置与数据库内数据是否重合，判定待测样品的真假。

在其中一个实施例中，所述相应吸收谱由太赫兹光谱仪装置测量得到。

在其中一个实施例中，所述太赫兹光谱仪装置包括：

载物台，用于承载待测样品；

激光器，用于产生脉冲光；

分束片，用于将脉冲光分为泵浦光和探测光；

太赫兹辐射端，设置在所述泵浦光所在光路，所述泵浦光辐射到太赫兹辐射端产生太赫兹波；

抛物面镜，用于接收所述太赫兹波并准直聚焦至所述载物台的样品承载位置，并将透过样品的太赫兹波准直聚焦；

太赫兹接收端，设置在经准直聚焦的透过样品的太赫兹波的传播路径上以及所述探测光所在光路上，接收所述太赫兹波以及所述探测光，产生检测信号；处理模块，接收所述检测信号，并经相应处理最终显示出太赫兹吸收谱。

在其中一个实施例中，所述太赫兹光谱仪装置还包括样品仓，用于为样品检测提供预定的气体环境。

在其中一个实施例中，所述太赫兹光谱仪装置测得相应吸收谱的步骤包括：