[发明专利]测试像素驱动电路的方法

权利要求书

1.一种测试像素驱动电路的方法，其特征在于，所述像素驱动电路包括：

第一晶体管，其栅电极连接到第一节点，且其第一端连接到第二节点，且其第二端连接到第三节点；

第二晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第二端连接到所述第二节点，且其第一端用于接收数据电压；

第三晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第二端连接到所述第三节点，且其第一端连接到所述第一节点；

第四晶体管，其栅电极用于接收上一级扫描信号，且其第一端连接到所述第一节点，且其第二端用于接收第二电源电压；

第五晶体管，其栅电极用于接收使能信号，且其第一端用于接收第一电源电压，且其第二端连接到所述第二节点；

第六晶体管，其栅电极用于接收使能信号，且其第一端连接到所述第三节点；

第七晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第一端连接到所述第四晶体管的第二端，且其第二端连接到所述第六晶体管的第二端；

电容器，其第一端连接所述第五晶体管的第一端，且其第二端连接所述第一节点；

其中，所述测试像素驱动电路的方法包括：

在间接测试时段通过导通所述第四晶体管，以将用于在直接测试时段导通所述第一晶体管的电压存储在所述电容器中，若从间接测试时段进入直接测试时段，则所述第四晶体管和所述电容器正常；

在所述间接测试时段之后的直接测试时段导通所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管，并检测所述第二晶体管的第一端和所述第四晶体管的第二端之间的电流，若检测到的电流在预定电流范围内，则确定所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管正常。

2.根据权利要求1所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，所述第一晶体管至所述第七晶体管中的每个晶体管是p沟道晶体管。

3.根据权利要求2所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述间接测试时段，所述上一级扫描信号为低电位，所述当前级扫描信号和所述使能信号为高电位。

4.根据权利要求2所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述间接测试时段，所述上一级扫描信号和所述使能信号为低电位，所述当前级扫描信号为高电位。

5.根据权利要求3或4所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述直接测试时段，所述上一级扫描信号为高电位，所述当前级扫描信号和所述使能信号为低电位。

6.根据权利要求3所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述间隔测试时段之前的第一时段，所述上一级扫描信号、所述当前级扫描信号和所述使能信号均为高电位。

7.根据权利要求3或4所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述间隔测试时段之前的第二时段，所述上一级扫描信号和所述使能信号均为高电位，所述当前级扫描信号为低电位。

8.根据权利要求7所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述第二时段之前的第一时段，所述当前级扫描信号和所述使能信号均为高电位，所述上一级扫描信号为低电位。