[发明专利]测试像素驱动电路的方法

说明书

本发明提供了一种测试像素驱动电路的方法，其包括：在间接测试时段通过导通第四晶体管将用于在直接测试时段导通第一晶体管的电压存储在第电容器中，若从间接测试时段进入直接测试时段，则第四晶体管和电容器正常；在间接测试时段之后的直接测试时段导通第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第五晶体管、第六晶体管和第七晶体管，并检测第二晶体管的第一端和第四晶体管的第二端之间的电流，若检测到的电流在预定电流范围内，则确定第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第五晶体管、第六晶体管和第七晶体管正常。本发明能够对像素驱动电路中的所有晶体管和电容器进行测试，从而不会出现漏检现象。

技术领域

本发明属于电路测试技术领域，具体地讲，涉及一种测试像素驱动电路的方法。

背景技术

近年来，有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示器成为国内外非常热门的新兴平面显示设备产品，这是因为OLED显示器具有自发光、广视角、短反应时间、高发光效率、广色域、低工作电压、薄厚度、可制作大尺寸与可挠曲的显示器及制程简单等特性，而且它还具有低成本的潜力。

OLED显示器按照驱动方式可以分为无源矩阵型OLED显示器(即PMOLED显示器)和有源矩阵型OLED(即AMOLED显示器)两大类。

AMOLED是电流驱动器件，当有电流流过有机发光二极管时，有机发光二极管发光，且发光亮度由流过有机发光二极管自身的电流决定。大部分已有的集成电路(IntegratedCircuit，IC)都只传输电压信号，故AMOLED的像素驱动电路需要完成将电压信号转变为电流信号的任务。传统的AMOLED像素驱动电路通常为2T1C，即两个晶体管加一个电容器的结构，将电压变换为电流，但传统2T1C像素驱动电路一般无补偿功能。因此，业内提出采用7T1C、6T1C、6T2C等具有补偿功能的像素驱动电路。

但是在这些具有补偿功能的像素驱动电路中，当对该像素驱动电路的各晶体管和各电容器进行测试时，某些晶体管和/或某些电容器将无法被进行测试，从而出现漏检现象。

发明内容

为了解决上述现有技术的问题，本发明的目的在于提供一种能够对像素驱动电路中的所有晶体管和所有电容器进行检测的测试像素驱动电路的方法。

根据本发明的一方面，提供了一种测试像素驱动电路的方法，所述像素驱动电路包括：第一晶体管，其栅电极连接到第一节点，且其第一端连接到第二节点，且其第二端连接到第三节点；第二晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第二端连接到所述第二节点，且其第一端用于接收数据电压；第三晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第二端连接到所述第三节点，且其第一端连接到所述第一节点；第四晶体管，其栅电极用于接收上一级扫描信号，且其第一端连接到所述第一节点，且其第二端用于接收第二电源电压；第五晶体管，其栅电极用于接收使能信号，且其第一端用于接收第一电源电压，且其第二端连接到所述第二节点；第六晶体管，其栅电极用于接收使能信号，且其第一端连接到所述第三节点；第七晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第一端连接到所述第四晶体管的第二端，且其第二端连接到所述第六晶体管的第二端；电容器，其第一端连接所述第五晶体管的第一端，且其第二端连接所述第一节点；其中，所述测试像素驱动电路的方法包括：在间接测试时段通过导通所述第四晶体管将用于在直接测试时段导通所述第一晶体管的电压存储在所述第电容器中，若从间接测试时段进入直接测试时段，则所述第四晶体管和所述电容器正常；在所述间接测试时段之后的直接测试时段导通所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管，并检测所述第二晶体管的第一端和所述第四晶体管的第二端之间的电流，若检测到的电流在预定电流范围内，则确定所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管正常。

进一步地，所述第一晶体管至所述第七晶体管中的每个晶体管是p沟道晶体管。