[发明专利]一种堆内构件整体式上支承结构成形方法有效
申请号: | 201711470439.0 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN109986285B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 李燕;张宏亮;许斌;罗英;饶琦琦;余志伟;李娜;张翼;蒋兴钧;何培峰;胡雪飞;李浩 | 申请(专利权)人: | 中国核动力研究设计院 |
主分类号: | B23P15/00 | 分类号: | B23P15/00 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 闫兆梅 |
地址: | 610041 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 构件 整体 支承 结构 成形 方法 | ||
1.一种堆内构件整体式上支承结构成形方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤一、选择电熔增材制造原材料,选择满足要求的Z2CN19-10控氮丝材和辅料,丝材直径在0.8mm~4mm之间;
步骤二、根据所需制造的堆内构件上支承结构的图纸,并考虑材料检验相关的检验取样尺寸余量,确定增材制造程序编写;
步骤三、清理增材用基板表面,并打磨抛光基板表面;
步骤四、采用以电弧为热源,以送丝熔覆方法进行上支承板(3)的成形,逐层熔覆堆积,直到完成设计所需增材制造的尺寸,熔覆堆积时,电熔基体预热温度不低于15℃,道间温度不大于180℃;
步骤五、上支承板(3)打印成形后,采用同样方法完成上支承法兰(1)和裙筒(2)的成形;
步骤六、对电熔增材成形的整体式上支承结构进行固溶热处理,热处理温度为:(1000~1100)℃×(1~4)h+水冷,固溶热处理次数不超过2次,固溶热处理后的晶粒度等级为4~7级;
步骤七、电熔增材成形后,对整体式上支承结构进行机加工,直至达到图纸要求的最终尺寸和表面粗糙度要求;
步骤八、加工完成后,对整体式上支承结构进行尺寸稳定化处理,尺寸稳定化处理的温度为(400~450)℃×(6~12)h;
步骤九、对整体式上支承结构进行液体渗透检验;
检验包括以下四个步骤:
(1)在整个液体渗透检验过程中,被检验件和渗透剂的温度保持在10℃~50℃之间,液体渗透剂停留时间至少为20分钟,且在整个渗透时间内,渗透剂必须保持湿润状态;
(2)使用温度为10℃~45℃的去离子水去除多余的渗透剂,用干净海绵或吸水纸进行擦洗,或用小于2bar的水冲洗,但要防止过清洗,采用自然干燥;
(3)在待检表面干燥后涂敷一层又细又均匀的显像剂;
(4)用裸眼在不小于500Lux光照下进行观察,必须在干燥后10~30分钟内评定完毕;
步骤十、液体渗透检验只记录大于2mm的缺陷显示,要求不允许出现以下缺陷:
(1)线性显示缺陷;
(2)最大尺寸大于4mm的圆形显示缺陷;
(3)3个或3个以上缺陷显示在一条直线上,并且显示边与边之间的距离小于3mm;
(4)面积为100cm2的矩形框范围内存在5个或5个以上显示,矩形框选择在显示最密集的区域且矩形框的最大边长不大于20cm;
步骤十一、对整体式上支承结构进行超声波检验;
包括以下步骤:
(1)检测用探头的标称频率为1MHz~2.5MHz;
(2)直探头的晶片直径为Φ10mm~Φ40mm,斜探头的晶片面积在300mm2~625mm2;
(3)斜探头的折射角,为35°~63°;
(4)对比试块的晶粒大小和声学特性与被检件相近,两者衰减系数的差值不大于4Db/m;
(5)检测时耦合方式采用直接接触法,并根据实际情况进行耦合补偿、衰减补偿和曲面补偿;
步骤十二、超声波检验不允许出现以下两种缺陷:
(1)任何体积型显示,其缺陷反射波最大幅度Hd参照试块圆孔上反射波幅值Hr/2,其长度等于或大于100mm;
(2)连续未熔合显示,其反射波高大于等于参考波高。
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