[发明专利]一种液晶显示屏大基板的快速检测方法在审

专利信息
申请号: 201711475006.4 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108132550A 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 王学雷;方金波;仝建军;李伟界;黄伟东;李建华 申请(专利权)人: 信利(惠州)智能显示有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 邓聪权
地址: 516029 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 大基板 快速检测 显示屏 液晶显示屏 切割 液晶显示领域 背光 电测探头 开启检测 上偏光片 下偏光片 有效检测 背光源 灯箱 点亮 电测 漏出 检测 配合
【权利要求书】:

1.一种液晶显示屏大基板的快速检测方法,其特征在于,包括:

将Cell成盒的显示屏大基板在IC控位处进行切割,漏出各显示屏的电测IC控位;

将切割后露出IC控位的大基板放置在带有下偏光片的背光灯箱或板上,并点亮背光源,所述大基板另一侧配合有上偏光片;

开启检测程序并将各电测探头分别接入所述IC控位,对所述大基板上Cell成盒的显示屏进行快速检测,判断是否合格。

2.如权利要求1所述的一种液晶显示屏大基板的快速检测方法,其特征在于,所述上偏光片和下偏光片的光线传播方向垂直,使背光源发出的光线依次通过下偏光片、Cell成盒的显示屏和上偏光片显示颜色。

3.如权利要求2所述的一种液晶显示屏大基板的快速检测方法,其特征在于,调整所述检测程序显示不同的测试画面。

4.如权利要求3所述的一种液晶显示屏大基板的快速检测方法,其特征在于,所述电测探头为一排或多排,根据所述电测探头的个数分别接入所述IC控位。

5.如权利要求2所述的一种液晶显示屏大基板的快速检测方法,其特征在于,所述背光灯箱或板的尺寸不小于所述大基板的尺寸。

6.如权利要求1至5中任一所述的一种液晶显示屏大基板的快速检测方法,其特征在于,所述上偏光片为手持式。

7.如权利要求6所述的一种液晶显示屏大基板的快速检测方法,其特征在于,所述上偏光片尺寸为A4纸张大小。

8.如权利要求1至5中任一所述的一种液晶显示屏大基板的快速检测方法,其特征在于,放在所述大基板上方的所述上偏光片尺寸与所述大基板相同,并漏出下方所述大基板上的IC控位。

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