[发明专利]一种液晶显示屏大基板的快速检测方法

说明书

本发明涉及液晶显示领域，公开了一种液晶显示屏大基板的快速检测方法，包括：将Cell成盒的显示屏大基板在IC控位处进行切割，漏出各显示屏的电测IC控位；将切割后露出IC控位的大基板放置在带有下偏光片的背光灯箱或板上，并点亮背光源，所述大基板另一侧配合有上偏光片；开启检测程序并将各电测探头分别接入所述IC控位，对所述大基板上Cell成盒的显示屏进行快速检测，判断是否合格。采用该技术方案能够实现对大基板的快速有效检测，节省了检测的人力和物力。

技术领域

本发明涉及液晶显示领域，特别涉及一种液晶显示屏大基板的快速检测方法。

背景技术

液晶显示器是目前业界中显示器件的一种，它的优点是机身薄，重量相对较轻而且占地和电磁辐射小，给人以健康产品的形象，所以，其广泛应用于人们的生活和生产中，最近几年液晶显示的生产规模越来越大，在国内已经有3370mm*2940mm的11代液晶面板生产线，是世界上最大的液晶面板生产线。

液晶显示器生产工艺主要包括Cell成盒的LCD工艺和安装背光的LCM工艺，其中LCD工艺又包括Color Filter生产加工工艺、Array生产加工工艺以及把两者贴合的Cell成盒工艺。此LCD加工工艺是液晶显示器的主要加工工艺步骤，是核心技术制程，也是基板的大世代线意义的主要体现所在。LCM工艺是把LCD屏切割、绑定以及安装背光的一个过程，也即是组装的过程，不触及液晶显示器加工的核心技术，相对来说较简单，而且组装成本相对LCD加工工艺的设备投资成本来说是很低的，所以，许多液晶显示器面板厂商主要是进行LCM工艺的生产加工，这样就要采购LCD显示屏，一般是LCD屏大基板采购过来，然后进行后段的切割、绑定以及安装背光，在这个过程中，把LCD屏大基板切割成小屏后就要进行快速电测，把不合格的产品摒除掉，这个快速电测过程对于LCD屏大基板生产厂家来说是至关重要的，因为一方面会对生产良率有影响甚至有经济损失，二是不清楚具体的问题所在及原因，同时，快检过程对于客户来说，基本上是人员在操作，费时费力。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种液晶显示屏大基板的快速检测方法，能够实现对大基板的快速有效检测，节省了检测的人力和物力。

本发明实施例提供的一种液晶显示屏大基板的快速检测方法，包括：

将Cell成盒的显示屏大基板在IC控位处进行切割，漏出各显示屏的电测IC控位；

将切割后露出IC控位的大基板放置在带有下偏光片的背光灯箱或板上，并点亮背光源，所述大基板另一侧配合有上偏光片；

开启检测程序并将各电测探头分别接入所述IC控位，对所述大基板上Cell成盒的显示屏进行快速检测，判断是否合格。

可选地，所述上偏光片和下偏光片的光线传播方向垂直，使背光源发出的光线依次通过下偏光片、Cell成盒的显示屏和上偏光片显示颜色。

可选地，调整所述检测程序显示不同的测试画面。

可选地，所述电测探头为一排或多排，根据所述电测探头的个数分别接入所述IC控位。

可选地，所述背光灯箱或板的尺寸不小于所述大基板的尺寸。

可选地，所述上偏光片为手持式。

可选地，所述上偏光片尺寸为A4纸张大小。

可选地，放在所述大基板上方的所述上偏光片尺寸与所述大基板相同，并漏出下方所述大基板上的IC控位。

由上可见，应用本实施例技术方案，由于在所述大基板上把IC控位切割裂片后露出，但不对整个大基板切割裂片，可以快速有效检测出所述显示屏是否合格，节省了检测的人力和物力。

附图说明