[发明专利]多角度加工坐标计算及补偿装置、方法和存储设备

权利要求书

1.一种多角度加工坐标计算及补偿装置，包括：

探针，用于测量目标点位的位置；

提醒单元；

处理器，适于实现各指令；及

存储设备，适于存储多条指令，所述指令适于由所述处理器加载并执行：

控制所述探针探测用于固定产品的治具，并计算所述治具的坐标；

控制所述探针探测所述产品，并计算所述产品的加工坐标；

将所述产品的加工坐标与所述治具的坐标进行比对，判断产品偏移的误差量是否超出预设值；及

自动计算所述产品在多个角度的加工坐标，并依据所述产品偏移的误差量分别补偿所述多个角度的加工坐标；

计算所述治具的坐标，具体为：

计算所述治具的中心；

将所述治具的中心与治具中心的理论值相比较，计算所述治具中心的误差值；

控制所述探针探测所述治具的两个最高点位；及

计算得到所述治具的坐标；

计算所述产品的加工坐标，具体为：

探测所述产品的多个点位；

计算所述产品的分中坐标，以及所述产品的偏转角度；及

计算出所述产品的加工坐标。

2.如权利要求1所述的多角度加工坐标计算及补偿装置，其特征在于，计算所述治具的坐标，还包括：

计算所述两个最高点位的分中值；

将所述两个最高点位的分中值与所述治具中心的理论值相比较，计算治具旋转角度的中心误差值；及

补偿所述治具的坐标。

3.如权利要求1所述的多角度加工坐标计算及补偿装置，其特征在于，所述指令适于由所述处理器加载并执行：

在所述产品偏移的误差量超出所述预设值时，控制所述提醒单元发出提醒。

4.一种多角度加工坐标计算及补偿方法，其特征在于，所述方法包括步骤：

控制探针探测用于固定产品的治具，并计算所述治具的坐标；

控制所述探针探测所述产品，并计算所述产品的加工坐标；

将所述产品的加工坐标与所述治具的坐标进行比对，判断产品偏移的误差量是否超出预设值；及

自动计算所述产品在多个角度的加工坐标，并依据所述产品偏移的误差量分别补偿所述多个角度的加工坐标；

计算所述治具的坐标，具体为：

计算所述治具的中心；

将所述治具的中心与治具中心的理论值相比较，计算所述治具中心的误差值；

控制所述探针探测所述治具的两个最高点位；及

计算得到所述治具的坐标；

计算所述产品的加工坐标，具体为：

探测所述产品的多个点位；

计算所述产品的分中坐标，以及所述产品的偏转角度；及

计算出所述产品的加工坐标。

5.如权利要求4所述的多角度加工坐标计算及补偿方法，其特征在于，计算所述治具的坐标，还包括：

计算所述两个最高点位的分中值；

将所述两个最高点位的分中值与所述治具中心的理论值相比较，计算治具旋转角度的中心误差值；及

补偿所述治具的坐标。

6.一种存储设备，其特征在于，所述存储设备存储多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行：

控制探针探测用于固定产品的治具，并计算所述治具的坐标；

控制所述探针探测所述产品，并计算所述产品的加工坐标；

将所述产品的加工坐标与所述治具的坐标进行比对，判断产品偏移的误差量是否超出预设值；及

自动计算所述产品在多个角度的加工坐标，并依据所述产品偏移的误差量分别补偿所述多个角度的加工坐标；

计算所述治具的坐标，具体为：

计算所述治具的中心；

将所述治具的中心与治具中心的理论值相比较，计算所述治具中心的误差值；

控制所述探针探测所述治具的两个最高点位；及

计算得到所述治具的坐标；

计算所述产品的加工坐标，具体为：

探测所述产品的多个点位；

计算所述产品的分中坐标，以及所述产品的偏转角度；及

计算出所述产品的加工坐标。