[发明专利]多角度加工坐标计算及补偿装置、方法和存储设备

说明书

一种多角度加工坐标计算及补偿方法，包括：控制所述探针探测用于固定产品的治具，并计算所述治具的坐标；控制所述探针探测所述产品，并计算所述产品的加工坐标；将所述产品的加工坐标与所述治具的坐标进行比对，判断产品偏移的误差量是否超出预设值；及自动计算所述产品在多个角度的加工坐标，并依据所述产品偏移的误差量分别补偿所述多个角度的加工坐标。本发明同时提出一种多角度加工坐标计算及补偿装置和存储设备。所述多角度加工坐标计算及补偿方法能够实现多个角度加工坐标的自动计算及补偿。

技术领域

本发明涉及机加工技术领域，特别是一种多角度加工坐标计算及补偿装置、方法和存储设备。

背景技术

随着电子装置行业的发展，人们对电子装置壳体的精度要求也越来越高，通常采用四轴加工系统来对电子装置壳体进行机加工。在电子装置壳体等工件的机加工制程中，需要分别对电子装置壳体的正面、四周的侧孔，以及侧壁进行加工。在加工前，需要先创建多个加工坐标系，即多角度加工坐标系。目前，多采用人工探点的方式寻找多角度加工坐标系，然而，这种方式耗时较长，误差较大，也无法实现对加工坐标的自动补偿。

发明内容

鉴于上述状况，有必要提供一种多角度加工坐标计算及补偿装置、方法和存储设备，以解决上述问题。

本发明提供一种多角度加工坐标计算及补偿装置，包括：探针，用于测量目标点位的位置；提醒单元；处理器，适于实现各指令；及存储设备，适于存储多条指令，所述指令适于由所述处理器加载并执行：控制所述探针探测用于固定产品的治具，并计算所述治具的坐标；控制所述探针探测所述产品，并计算所述产品的加工坐标；将所述产品的加工坐标与所述治具的坐标进行比对，判断产品偏移的误差量是否超出预设值；及自动计算所述产品在多个角度的加工坐标，并依据所述产品偏移的误差量分别补偿所述多个角度的加工坐标。

本发明还提供一种多角度加工坐标计算及补偿方法，所述方法包括步骤：控制探针探测用于固定产品的治具，并计算所述治具的坐标；控制所述探针探测所述产品，并计算所述产品的加工坐标；将所述产品的加工坐标与所述治具的坐标进行比对，判断产品偏移的误差量是否超出预设值；及自动计算所述产品在多个角度的加工坐标，并依据所述产品偏移的误差量分别补偿所述多个角度的加工坐标。

本发明还提供一种存储设备，所述存储设备存储多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行：控制探针探测用于固定产品的治具，并计算所述治具的坐标；控制所述探针探测所述产品，并计算所述产品的加工坐标；将所述产品的加工坐标与所述治具的坐标进行比对，判断产品偏移的误差量是否超出预设值；及自动计算所述产品在多个角度的加工坐标，并依据所述产品偏移的误差量分别补偿所述多个角度的加工坐标。

上述角度加工坐标计算及补偿装置、方法和存储设备，能够实现产品的多角度加工坐标的自动计算与补偿，取代了人工寻找坐标的方式，大大缩减了寻找坐标的时间，多角度坐标能够随产品的料况作相应的调整，误差得到控制，进而提升了产品的加工质量。

附图说明

图1为本发明实施方式之的多角度加工坐标计算及补偿装置的模块示意图。

图2为本发明实施方式之的多角度加工坐标计算及补偿系统的模块示意图。

图3为本发明实施方式之的多角度加工坐标补偿方法的流程示意图。

主要元件符号说明