[发明专利]可调试辐射单元及天线

权利要求书

1.一种可调试辐射单元，其特征在于，所述可调试辐射单元包括：

振子主体，包括底座、多对馈电巴伦及多个偶极子，多对所述馈电巴伦环绕所述底座的中心轴线对称设置，每对所述馈电巴伦均连接一个所述偶极子，每个所述偶极子均包括延伸方向与所述底座大致平行的振子臂，所述振子臂具有辐射面；

多个绝缘介质层，每个所述绝缘介质层可拆卸地分别连接于一个所述振子臂并至少部分覆盖所述辐射面；以及

多个耦合加载件，每个所述耦合加载件可拆卸地分别连接于所述一个所述绝缘介质层并至少部分覆盖所述绝缘介质层远离所述辐射面一侧，与所述振子臂耦合成辐射臂；

其中，所述耦合加载件均包括第一耦合加载部、第二耦合加载部以及第三耦合加载部，所述第二耦合加载部自所述第一耦合加载部的一侧弯折设置，所述第一耦合加载部至少部分覆盖于所述绝缘介质层，所述第三耦合加载部自所述第二耦合加载部远离所述第一耦合加载部一侧沿所述第二耦合加载部的宽度方向延伸并逐渐远离所述第一耦合加载部；或者

一部分所述耦合加载件均包括第一耦合加载部及第二耦合加载部，所述第二耦合加载部自所述第一耦合加载部的一侧弯折设置，所述第一耦合加载部至少部分覆盖于所述绝缘介质层；另一部分所述耦合加载件均包括所述第一耦合加载部、所述第二耦合加载部以及第三耦合加载部，所述第二耦合加载部自所述第一耦合加载部的一侧弯折设置，所述第一耦合加载部至少部分覆盖于所述绝缘介质层，所述第三耦合加载部自所述第二耦合加载部远离所述第一耦合加载部一侧沿所述第二耦合加载部的宽度方向延伸并逐渐远离所述第一耦合加载部。

2.根据权利要求1所述的可调试辐射单元，其特征在于，多对所述馈电巴伦自所述底座边缘以凸出所述底座所在平面的方式向外延伸，每对所述馈电巴伦远离所述底座一端设有一个所述偶极子。

3.根据权利要求2所述的可调试辐射单元，其特征在于，每个所述偶极子包括一对振子臂，每个所述振子臂分别自其中一个所述馈电巴伦向远离所述底座的中心轴线方向延伸。

4.根据权利要求1所述的可调试辐射单元，其特征在于，每个所述第二耦合加载部位于所述绝缘介质层背向所述底座的中心轴线的一侧，多个所述第二耦合加载部沿周向环绕所述振子主体的外周。

5.根据权利要求1所述的可调试辐射单元，其特征在于，所述第一耦合加载部与所述第二耦合加载部之间的夹角大致呈90°。

6.根据权利要求1所述的可调试辐射单元，其特征在于，所述第二耦合加载部的长度与所述第一耦合加载部的长度相同；

或，所述第二耦合加载部的长度大于所述第一耦合加载部的长度，所述第二耦合加载部长度方向上的两端突伸出所述第一耦合加载部；

或,所述第二耦合加载部的长度小于所述第一耦合加载部的长度，所述第二耦合加载部两端沿长度方向收缩。

7.根据权利要求1所述的可调试辐射单元，其特征在于，所述第三耦合加载部在所述第二耦合加载部的长度方向上的尺寸小于所述第二耦合加载部的长度。

8.根据权利要求1所述的可调试辐射单元，其特征在于，所述绝缘介质层呈形状与所述偶极子的形状匹配的片状。

9.一种天线，其特征在于，包括如权利要求1～8任意一项所述的可调试辐射单元，所述天线还包括反射板，所述反射板上间隔排列有多个所述可调试辐射单元。

10.根据权利要求9所述的天线，其特征在于，所述天线还包括高频辐射单元，所述高频辐射单元与所述可调试辐射单元间隔设置和/或设于所述可调试辐射单元内以被所述馈电巴伦围合。