[发明专利]可调试辐射单元及天线

说明书

本发明涉及一种可调试辐射单元及天线，可调试辐射单元包括：振子主体，包括底座、多对馈电巴伦及多个偶极子，多对馈电巴伦环绕底座的中心轴线对称设置，每对馈电巴伦均连接一个偶极子，每个偶极子均包括振子臂，振子臂具有辐射面；多个绝缘介质层，每个绝缘介质层可拆卸地分别连接于一个振子臂并至少部分覆盖辐射面；多个耦合加载件，每个耦合加载件可拆卸地分别连接于一个绝缘介质层并至少部分覆盖绝缘介质层远离辐射面一侧，与振子臂耦合成辐射臂。上述可调试辐射单元，可选择安装于振子主体上的耦合加载件与阵子臂共同充当该可调试辐射单元的辐射臂，也可起到调节电路作用，且可根据不同需要自由拆装不同形状的耦合加载件以达到不同的效果。

技术领域

本发明涉及移动通信天线领域，特别是涉及一种可调试辐射单元及天线。

背景技术

随着天线技术发展，小型化和多频化成为天线一个重要发展趋势。高低频嵌套方案是实现多频天线的一个重要方法。高低频嵌套方案中，由于高低频之间的相互影响，天线隔离度指标实现难度大。目前所公知的多极化天线隔离度调节方法，典型特征为在辐射单元四周以及辐射单元之间增加去耦合加载部件，这些去耦合加载部件的位置都在辐射单元周围或者辐射单元之间，去耦部件与相应的辐射单元之间感应产生的第一电流(即辐射单元在相应的去耦部件上产生的感应电流)，能最大效率地抵消天线阵列的相邻辐射单元之间相互感应产生的第二电流。

而在高低频嵌套方案中，目前所公知的隔离度调试方法，低频去耦合调试件在优化低频隔离度同时，对高频的隔离度影响大，易造成高频隔离恶化；而高频的去耦合和调试件对低频的隔离度也有影响，造成低频隔离度恶化。由于上述现象存在，造成调完低频调高频，调完高频调低频，反复调试现象，而且使用的去耦合调试种类繁杂，数量大，造成调试耗时多，调试一致性差，且大量去耦合调试件的使用，加剧边界条件的不对称性，造成天线方向图恶化。

发明内容

基于此，有必要针对天线的辐射单元的隔离度调整效果较差的问题，提供一种隔离度调整效果较好的可调试辐射单元及天线。

一种可调试辐射单元，所述可调试辐射单元包括：

振子主体，包括底座、多对馈电巴伦及多个偶极子，多对所述馈电巴伦环绕所述底座的中心轴线对称设置，每对所述馈电巴伦均连接一个所述偶极子，每个所述偶极子均包括振子臂，所述振子臂具有辐射面；

多个绝缘介质层，每个所述绝缘介质层可拆卸地分别连接于一个所述振子臂并至少部分覆盖所述辐射面；以及

多个耦合加载件，每个所述耦合加载件可拆卸地分别连接于所述一个所述绝缘介质层并至少部分覆盖所述绝缘介质层远离所述辐射面一侧，与所述振子臂耦合成辐射臂。

上述可调试辐射单元，可选择安装于振子主体上的耦合加载件与阵子臂共同充当该可调试辐射单元的辐射臂，也可起到调节电路作用，且可根据不同需要自由拆装不同形状的耦合加载件以达到不同的效果，从而无需单独设置其它调试件，显著降低调试件对电路的影响及对方向图的恶化作用。

在其中一个实施例中，多对所述馈电巴伦自所述底座边缘以凸出所述底座所在平面的方式向外延伸，每对所述馈电巴伦远离所述底座一端设有一个所述偶极子。

在其中一个实施例中，每个所述偶极子包括一对振子臂，每个所述振子臂分别自其中一个所述馈电巴伦向远离所述底座的中心轴线方向延伸。

在其中一个实施例中，所述耦合加载件包括第一耦合加载部及自第一耦合加载部的一侧弯折设置的第二耦合加载部，所述第一耦合加载部至少部分覆盖于所述绝缘介质层，每个所述第二耦合加载部位于所述绝缘介质层背向所述底座的中心轴线的一侧，多个所述第二耦合加载部沿周向环绕所述振子主体的外周。

在其中一个实施例中，所述第一耦合加载部与所述第二耦合加载部之间的夹角大致呈90°。

在其中一个实施例中，所述第二耦合加载部的长度与所述第一耦合加载部的长度相同；