[发明专利]一种结构光的处理方法、装置以及移动终端有效

专利信息
申请号: 201711483874.7 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108347595B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 张恒莉;韦冠宇 申请(专利权)人: 维沃移动通信有限公司
主分类号: H04N13/204 分类号: H04N13/204;H04N13/106
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 王洪
地址: 523860 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 结构光编码 干扰信息 结构光 移动终端 删除 获取目标 景深信息 目标拍摄 深度计算 信息计算 接收器 准确率 算法 反射 采集 场景
【说明书】:

发明实施例提供了一种结构光的处理方法、装置以及移动终端,其中所述方法包括:获取目标结构光接收器采集的结构光编码信息,所述结构光编码信息从目标拍摄场景中反射;判断所述结构光编码信息是否为干扰信息;若所述结构光编码信息为干扰信息,则删除所述结构光编码信息,使得后续根据删除了干扰信息后的结构光编码信息计算的景深信息更加准确,提高了深度计算算法的准确率。

技术领域

本发明实施例涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种结构光的处理方法、装置以及移动终端。

背景技术

传统的图像成像仪器采集到的信号只是空间域上的二维信息,三维场景中的深度信息没有被采集到。随着当今科学技术的发展和人们生活水平的提高,传统的二维信息已经不能满足人们实际生活的需求。如何能够从场景中快速、高效的获取三维场景中的深度信息已经成为当前研究的热点。

从实际场景的三维信息中获取场景深度信息的过程叫做深度获取。根据深度获取过程中是否需要对被测物体进行接触式测量,可以把深度获取方法分为接触式测量和非接触式测量两大类。

接触式测量通过接触物体表面来得到深度信息,如坐标测量机采用的就是接触式测量法。虽然接触式测量方法可以获得高精度的三维数据,但它对硬件要求高、速度慢。多数接触式测量仪器体积大,不便于使用,且直接接触物体表面会对物体产生一定的损害。

非接触式测量不需要与目标物体接触就能获取目标物体的深度信息,如激光雷达、光学成像测量等方法。由于非接触式测量具有测量速度快,采样点分辨率高等优点,该方法现已成为获取深度信息的一个重要方法。

根据测量过程中是否需要投射出探测信号,非接触式测量方法又可分为被动式测量方法和主动式测量方法两大类。被动式测量方法是不需要投射探测信号,通过测量目标物体表面反射的辐射波来进行深度测量。常见的被动式测量方法有立体视觉法、阴影测量法、聚焦法、离焦法等。其中应用最为广泛的立体视觉法是通过模拟生物的视觉方式,在多个角度采用多个摄像机获得被测物体多张数字图像。然后根据特定采样点在多张图像中像素点的匹配及采样摄像机的空间位置关系,依据三角测量几何原理,计算出该特定采样点的深度数值。虽然被动式测量方法操作简便,容易实现,不需要额外光源,但是该方法却很难达到在多张数字图像中特定采样点的精确匹配。对于不存在明显特征的图像,该方法计算量大,匹配精度低,继而难以获得高精确的深度测量结果。

主动式测量方法需要投射额外的探测波到目标物体上,通过检测目标物体反射回波,计算探测物体的深度信息。常见的可投射的探测波有可见光、高能量光束、超声波和X射线等。主动式测量方法主要有激光扫描法、飞行时间法和结构光法等。

激光扫描法采用激光扫描仪,通过对物体进行逐点扫描,得到深度信息。虽然精度较高,但是为得到高分辨率的深度数值,耗时较长;飞行时间法即time of flight,是新兴的三维成像技术之一,虽然它的测量速度快,但采集到的深度图像分辨率较低,精度也不高。

结构光法可以利用简单的设备,实现高精度、高可靠性的深度信息获取。其原理是,首先利用光学投射设备将特定的具有编码规律的结构光模板投射到被测物体表面,然后利用图像采集设备采集经过目标物体表面调制后的图像。通过比较投射模板和采集到的图像,得到图像像素点的匹配关系,结合三角测距几何原理计算出物体表面的深度信息。结构光法通过利用可控光源形成具有明显纹理特征的信息,能降低深度测量中诸如目标物体缺乏纹理、表面光滑等情况下进行匹配的难度。正是因为结构光法具有实现简单、测量速度快、精度高等特点,该方法目前已得到广泛应用。

在结构光法测量景深的过程中,如果当前场景被其他信号干扰,很容易导致测量的深度信息不准确。

发明内容

本发明实施例提供一种结构光的处理方法,以解决现有的根据结构光计算深度信息不准确的问题。

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