[发明专利]一种电磁灶上测温目标体的测温装置及测温方法在审

专利信息
申请号: 201711487693.1 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN109990900A 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 李元秋;严力峰;钟健 申请(专利权)人: 宁波方太厨具有限公司
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 代理人: 徐雪波;王莹
地址: 315336 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 测温 红外探头 电磁灶面板 目标体 测温装置 红外光源 电磁灶 温度检测元件 实时获取 电路板 红外参数 红外检测 检测区域 实时计算 温度数据 温敏器件 控制器 电连接 匹配
【权利要求书】:

1.一种电磁灶上测温目标体的测温装置,其特征在于:包括

红外探头(1),内置有能够获取温度信号的温敏器件,所述红外探头(1)设置在电磁灶内并位于电磁灶面板(6)的下方;

红外光源(2),设置在电磁灶内并位于电磁灶面板(6)的下方,所述红外光源(2)位于红外探头(1)旁;

温度检测元件(3),设置在所述电磁灶面板(6)上并位于红外探头(1)在电磁灶面板(6)上的检测区域旁,用于检测电磁灶面板(6)的温度;

控制器(4),分别与所述红外探头(1)、红外光源(2)、温度检测元件(3)电连接。

2.根据权利要求1所述的电磁灶上测温目标体的测温装置,其特征在于:还包括能与所述控制器(4)电连接的备用红外探头(5),所述备用红外探头(5)用于放置在电磁灶面板(6)上方与所述红外探头(1)呈镜像对称的位置使用。

3.根据权利要求1或2所述的电磁灶上测温目标体的测温装置,其特征在于:所述红外探头(1)、红外光源(2)集成设置在一块电路板(7)上。

4.根据权利要求3所述的电磁灶上测温目标体(8)的反射率测定装置,其特征在于:所述控制器(4)也集成设置在所述电路板(7)上。

5.根据权利要求1至4任一权利要求所述的电磁灶上测温目标体的测温装置,其特征在于:所述红外光源(2)的设置位置与所述红外探头(1)在电磁灶面板(6)上的检测区域相匹配,以使得所述红外探头(1)能够检测到红外光源(2)经反射的红外光。

6.一种电磁灶上测温目标体的测温方法,其特征在于:包括以下步骤:

S1、获取控制器(4)中存储的电磁灶面板(6)的透射率τ0、电磁灶面板(6)的反射率为ρ0以及电磁灶面板(6)的发射率为ε0,获取控制器(4)中存储的电路板(7)的发射率为ε2,获取控制器(4)中存储的红外光源(2)可接收能量的总和Es,获取控制器(4)中存储的标准黑体辐射的红外能量中能够被红外探头(1)接收到部分的能量E与标准黑体温度T的函数关系E=f(T);

S2、在电磁灶面板(6)上未放置测温目标体(8)的前提下,控制器(4)控制打开和关闭红外光源(2);

红外探头(1)检测红外光源(2)打开时获取的红外能量数据E1并传送至控制器(4),红外探头(1)检测红外光源(2)关闭时获取的红外能量数据E2并传送至控制器(4);

S3、在电磁灶面板(6)上放置测温目标体(8),且将测温目标体(8)放置在红外探头(1)的检测区域内,控制器(4)控制打开和关闭红外光源(2);

红外探头(1)检测红外光源(2)打开时获取的红外能量数据E5并传送至控制器(4),红外探头(1)检测红外光源(2)关闭时获取的红外能量数据E6并传送至控制器(4);

S4、控制器(4)计算红外光源(2)发射的红外能量经过电磁灶面板(6)透射后,进而经过待测目标体底面反射,再经过电磁灶面板(6)透射,最终被红外探头(1)接收到的红外能量Er;

Er=(E5-E6)-(E1-E2)=Es*τ010; (公式1)

其中ρ1为测温目标体(8)的反射率;

根据公式1可得,

由于测温目标体(8)的透射率τ1=0,根据公式2计算测温目标体(8)的发射率ε1

S5、控制器(4)实时接收红外探头(1)获取的红外能量数据e;

e=Ea+Eb+Ec+Ed; (公式4)

其中Ea表示红外探头(1)接收的电磁灶面板(6)的下表面辐射的红外能量;

Ea=ε0*f(T0); (公式5)

T0表示电磁灶面板(6)的温度,T0由温度检测元件(3)检测获取并传送给控制器(4);

Eb表示电磁灶面板(6)的上表面辐射的红外能量经电磁灶上放置的测温目标体(8)底部反射后,再经过电磁灶面板(6)透射后而被红外探头(1)接收的红外能量;

Eb=ε0*f(T0)*ρ10; (公式6)

Ec表示电磁灶上放置的测温目标体(8)底部辐射的红外能量经电磁灶面板(6)透射后而别红外探头(1)接收的红外能量;

Ec=ε1f(T1)*τ0; (公式7)

其中T1表示电磁灶上放置的测温目标体(8)的温度;

Ed表示红外探头(1)附近电路板(7)辐射的红外能量经过电磁灶面板(6)的下表面反射后而被红外探头(1)接收的能量部分,以及电路板(7)辐射的红外能量透过电磁灶面板(6)后经测温目标体(8)底部反射再透过电磁灶面板(6)而被红外探头(1)接收的能量部分之和;

Ed=ε2*f(T2)*(ρ0010; (公式8)

其中T2表示电路板(7)的温度,T2由红外探头(1)内的温敏器件检测获取并传送给控制器(4);

根据公式4至公式8,可得:

e=ε0*f(T0)+ε0*f(T0)*ρ101f(T1)*τ02*f(T2)*(ρ0010); (公式9)

S6、控制器(4)根据公式9计算获取电磁灶上放置的测温目标体(8)的温度T1

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