[发明专利]一种电磁灶上测温目标体的测温装置及测温方法

说明书

本发明涉及一种电磁灶上测温目标体的测温装置，包括位于电磁灶面板的下方的红外探头、红外光源，设置在电磁灶面板上并位于电磁灶面板上的红外检测区域旁的温度检测元件，与红外探头、红外光源、温度检测元件电连接的控制器，红外光源位于红外探头旁且与红外探头在电磁灶面板上的检测区域相匹配，红外探头内具有温敏器件。本发明还涉及一种电磁灶上测温目标体的测温方法，在实时计算测温目标体的红外参数，同时实时获取电磁灶面板温度、电路板温度，以及实时获取的红外探头获取的能量的基础上实现测温目标体温度的计算。本发明中的测温装置结构简单，测定方法操作方便容易，并且获取的温度数据更加准确。

技术领域

本发明涉及温度检测技术领域，特别涉及一种电磁灶上测温目标体的测温装置，还涉及一种电磁灶上测温目标体的测温方法。

背景技术

在现有测温技术中，有接触测温和非接触测温两大类。接触测温一般使用热敏电阻或是热电偶等热敏器件。接触测温本身就会有延迟，因为待测物体要传热给热敏器件，才能进行测量。并且热敏器件的温度耐受能力有限，应用在高温器件测温环境中老化速度快，并且在一些应用环境中也无法实现与测温目标物的直接接触，应用范围受限。

非接触测温主要是红外测温，通常采用红外探头进行测温。红外探头主要利用辐射热效应，使得使探测器件接收辐射能后引起温度升高，进而使红外探头中某一性能随着温度的变化而发生变化，进而获取温度信号。

根据光学原理，α+ρ+τ＝1，其中α表示吸收率，ρ表示反射率，τ表示透射率。根据基尔霍夫定律可知，α＝ε，其中ε表示发射率，对于不透明材质的物体，τ＝0，则有ε+ρ＝1，即不透明物体表面的反射率越高和发射率成反比。红外测温中，发射率的测定是必须进行的工作。而红外探头在生产时会使用发射率接近1的黑体进行温度标定。不同的生产商选用的黑体的反射率不尽相同，但是红外探头中的发射率则设定为一个固定值。同样温度的物体，会因为材质的不同而导致物体的发射率不同，进而会引起温度测量误差。导致检测获取的温度结果会存在较大的误差。

电磁灶上放置的锅具等进行测温时，由于有电磁灶的面板阻隔因素，电磁灶上放置物品的红外测温相应比较繁琐。利用电磁灶内的红外探头对放置在电磁灶上的物品进行测温时，存在以下难题：电磁灶上放置待测物品表面发射率未知；面板红外线透过率未知；面板也有较高的温度，也会发射红外线。为了解决这些测温的难题，则出现了在面板上对应红外探头的位置开孔，或是红外探头外置。开孔会降低电磁灶面板的强度，存在安全隐患，并且影响电磁灶美观清洁，实用性差。而将红外探头外置设置则很难测量电磁灶上物品底部的温度，仅能测量物品侧面的温度。如此，在测温过程中溅射到红外探头上的油污、环境的腐蚀等外界因素会直接影响红外探头的测温精度，存在测温干扰因素多、不美观、不利于清洁等问题，实用性也差。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种能够在使用过程中检测测温目标体的反射率以实现测温目标体温度计算，进而提高温度检测准确率的电磁灶上测温目标体的测温装置及测温方法。

本发明解决上述问题所采用的技术方案为：一种电磁灶上测温目标体的测温装置，其特征在于：包括

红外探头，内置有能够获取温度信号的温敏器件，所述红外探头设置在电磁灶内并位于电磁灶面板的下方；

红外光源，设置在电磁灶内并位于电磁灶面板的下方，所述红外光源位于红外探头旁；

温度检测元件，设置在所述电磁灶面板上并位于红外探头在电磁灶面板上的检测区域旁，用于检测电磁灶面板的温度；

控制器，分别与所述红外探头、红外光源、温度检测元件电连接。

为了能够获取电磁灶面板、电路板的红外参数，还包括能与所述控制器电连接的备用红外探头，所述备用红外探头用于放置在电磁灶面板上方与所述红外探头呈镜像对称的位置使用。

优选地，所述红外探头、红外光源集成设置在一块电路板上。